表面成分分析的常見方法

時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：511

表面成分分析按照結(jié)論來區(qū)分，物質(zhì)成分分析分為定性分析和定量分析兩種.

成分分析的定性結(jié)果 通俗的理解是——通過成分分析的手段得出被測物中主要包括的成分，概況的來說就是確定物質(zhì)的組分。

成分分析的定量結(jié)果 通俗的理解是——在確定被測物的定性組分之后，進(jìn)行相應(yīng)的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現(xiàn)在的科學(xué)技術(shù)，定量分析只能做到無限接近真實情況，但卻無法**保證準(zhǔn)確。

定性半定量分析 這是現(xiàn)在許多材料成分分析實驗中結(jié)論的常見情況，其定義在于——能基本確定被測物的組分，在定量上也有一定的參考值，但其值并不精確（僅具備參考意義）。

異物與污染物分析 這是特殊的成分分析，由一些具備較高成分分析技術(shù)實力第三方測試機(jī)構(gòu)推出，用于分析被測物中出現(xiàn)的瑕疵或影響功能的特殊因素（例如透明屏幕的污點等）。

目前成分分析的常見物質(zhì)進(jìn)行分類，一般包括未知物，高分子產(chǎn)品，精細(xì)化學(xué)品，藥物中間體，水質(zhì)，土壤，礦物質(zhì)，金屬元素分析等。

分析常見方法
高分子，化學(xué)品常用方法FTIR （傅立葉紅外光譜儀）
PGC-MS（裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用）
TGA（熱重分析）
DSC（示差量熱）
高溫煅燒法

表面成分分析工具
化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀
微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀
XRF法
GC-MS
LC-MS
ICP-MS
核磁
IC
GPC
XRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）
電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）
原子吸收光譜（AAS）
手持式XRF
深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• 表面成分分析需要的工具有哪些？

  表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF

• SEM及EDS測試范圍有哪些？

  SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規(guī)服務(wù)項目:各種固體材料的形貌分析微區(qū)化學(xué)成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機(jī)械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點掃描測量，測量費時。機(jī)械探針式測量方法是開發(fā)較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方

• X射線光譜方法測定

  X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設(shè)

• 什么是表面微觀形貌SEM？

  表面所具有的微觀幾何形狀統(tǒng)稱為表面形貌(surface?topography)，?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下，一種材料是空氣，另-種為固體材料，例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實體和周圍環(huán)境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征，是由加工過程中的各種工序產(chǎn)生的。一個制件表面的微觀幾何形貌