氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340 真空鍍膜配氣面板檢漏
上海伯東某客戶生產(chǎn)高純度特種氣體不銹鋼減壓閥門, 接頭, 管件, 這些配件主要用于集成在真空鍍膜配氣面板, 實現(xiàn)工藝氣體的傳輸. 為了防止氣體外泄, 除了閥門, 接頭, 管件需要單檢漏外, 整個配氣面板也需要測試整體漏率, 使用上海伯東德國 Pfeiffer 氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340, 真空模式下, 漏率設(shè)置為 5.5x10-10 Pa m3/s. 組裝后的真空鍍膜配氣面板廣泛應(yīng)用于 CVD 設(shè)備.
真空鍍膜配氣面板檢漏
1. 不銹鋼減壓閥門, 接頭, 管件等單進行檢漏, 真空模式下, 漏率 5.5x10-10 Pa m3/s
2. 組裝后的真空鍍膜配氣面板, 整體再次進行檢漏, 真空模式下, 漏率 5.5x10-10 Pa m3/s
上海伯東銷售維修氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340 與傳統(tǒng)泡沫檢漏和壓差檢漏對比, 在提供無損檢漏的同時可以出小的漏率 5E-13 Pa m3/s, 利用氦氣作為示蹤氣體可定位, 定量漏點.
型號 | ASM 340 W | |
對氦氣的小檢測漏率 | 5E-13 Pa m3/s | |
檢測模式 | 真空模式和吸式 | |
檢測氣體 | 4He, 3He, H2 | |
啟動時間 min | 3 | |
對氦氣的抽氣速度 l/s | 2.5 | |
進氣口大壓力 hPa | 25 | |
前級泵抽速 m3/h | 油泵 15 | |
重量 kg | 56 |
結(jié)合了 Pfeiffer 與 Adixen 兩家檢漏儀的技術(shù)優(yōu)勢, 上海伯東德國 Pfeiffer 推出全系列新型號氦質(zhì)譜檢漏儀, 從便攜式檢漏儀到工作臺式檢漏儀滿足各種不同的應(yīng)用. 氦質(zhì)譜檢漏儀替代傳統(tǒng)泡沫檢漏和壓差檢漏, 利用氦氣作為示蹤氣體可定位, 定量漏點. 氦質(zhì)譜檢漏儀滿足單機檢漏, 也可集成在檢漏系統(tǒng)或 PLC. 推薦氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用 >>
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詞條說明
氦質(zhì)譜檢漏儀 CVD 設(shè)備檢漏,滿足*三代半導體芯片量產(chǎn)
氦質(zhì)譜檢漏儀?CVD 設(shè)備檢漏, 滿足*三代半導體芯片量產(chǎn)上海伯東某客戶是一家以**化合物半導體光電器件相關(guān)產(chǎn)品衍生智造為主業(yè)的創(chuàng)新型科技公司, **產(chǎn)品是物聯(lián)網(wǎng), 5G 通訊, 安防監(jiān)控等*三代半導體芯片. 芯片在生產(chǎn)過程中使用 CVD 設(shè)備做鍍膜處理, 在鍍膜過程中需要保持設(shè)備處于高真空狀態(tài), 這就要求腔體的泄漏率不能過 1E-10 mbrl l/s.CVD?設(shè)備檢漏要
??紅外截止濾光片?(IRCF)?是利用精密光學鍍膜技術(shù)在光學基片上交替鍍上高低折射率的光學膜,?實現(xiàn)可見光區(qū)(400nm-630nm)高透,?近紅外(700nm-1100nm)截止的光學濾光片,?主要應(yīng)用于可拍照手機攝像頭、電腦內(nèi)置攝像頭、汽車攝像頭和安防攝像頭等數(shù)碼成像領(lǐng)域,?用于紅外光線對?CCD/CM
上海伯東美國?KRi 考夫曼 RF 射頻離子源, 燈絲提供高能量, 低濃度的寬束離子束, 離子束轟擊濺射目標, 濺射的原子(分子)沉積在襯底上形成薄膜, IBSD 離子束濺射沉積 和 ?IBD 離子束沉積是其典型的應(yīng)用.KRi?離子源在 IBSD 離子束濺射沉積應(yīng)用通常安裝兩個離子源主要濺射沉積源和二次預(yù)清潔 / 離子輔助源一次氣源為惰性氣體, 二次氣源為惰性或反應(yīng)性
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公司名: 伯東企業(yè)(上海)有限公司
聯(lián)系人: 葉南晶
電 話: 021-50463511
手 機: 13918837267
微 信: 13918837267
地 址: 上海浦東高橋上海浦東新區(qū)新金橋路1888號36號樓7樓702室
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