需先掌握IC生產(chǎn)制造的步驟,全部IC全是先從圓晶片剛開始生產(chǎn)加工的,當(dāng)圓晶片進行生產(chǎn)制造工藝流程以后,通常都必須開展檢測,隨后能夠封裝,不然將會成片圓片全是技術(shù)參數(shù)不過關(guān),假如立即封裝就會導(dǎo)致?lián)p害。針對圓片的檢測全是選用電極開展檢測的,應(yīng)用材料制做的電極具備必須的延展性,切導(dǎo)電率優(yōu)良,能夠立即扎在圓片的pad上,隨后檢測設(shè)備根據(jù)電極對集成ic釋放電子信號,從而能夠開展技術(shù)參數(shù)的檢測,以辨別圓片上每粒集成ic的優(yōu)劣。
圓片測試常見問題有哪些?
1、測試工程師檢測前應(yīng)保證隨身攜帶防護口罩右手隨身攜帶指套即可實際操作。
2、產(chǎn)品中轉(zhuǎn)較先查驗針卡的尖針是不是磨去(磨去的針卡會擠傷區(qū)片),假如針卡磨去馬上拆換新針卡。
3、查驗針卡是不是扭緊(針卡擰太松會扎壞圓片)。
4、在探針臺上入錄相對商品的行測試方法,隨后按一切正常操作步驟做。
5、上片較先留意恰當(dāng)應(yīng)用 WAFER鉗(有誤應(yīng)用會夾碎圓片)避免立即用裸手觸碰圓片(假如立即觸碰會使片變黃及其留有手指頭印。
6、恰當(dāng)鍵入國大片大片號、型號規(guī)格及其生產(chǎn)批號。調(diào)準(zhǔn)圓片的水準(zhǔn)要試扎5個點找好**位DIE再按 FAIST歸零即可檢測。
7、檢測半途要留意檢測的統(tǒng)計數(shù)據(jù)的合格率狀況,若有出現(xiàn)異常請中止馬上關(guān)機、報告組長及其技術(shù)工程師。
8、檢測半途針卡得用水砂紙磨一回,再用乙醇清理;
9、檢測結(jié)束要用心填好統(tǒng)計數(shù)據(jù)(機器設(shè)備號、型號規(guī)格、生產(chǎn)批號、針銀行卡賬號硬盤時間等),筆跡要整齊,儲存數(shù)據(jù)統(tǒng)計 DATALONG到特定商品目錄下,避免儲存不相同,不標(biāo)準(zhǔn)。
10、取片要等真空泵徹底釋放出來即可取片(強制取片會夾碎圓片。
無錫星杰測試有限公司成立于2017年,主要從事半導(dǎo)體集成電路測試代工服務(wù),公司座落于無錫市高浪東路999號太湖科技中心A座。公司目前擁有200M2無塵間,配備數(shù)十套測試系統(tǒng)和UF200系列探針臺,并且通過ISO9001(2015版)質(zhì)量體系認(rèn)證。公司技術(shù)團隊在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域內(nèi)擁有十年以上的豐富經(jīng)驗,對集成電路以及MEMS都有很好的理解以及工程開發(fā)能力。
詞條
詞條說明
需先掌握IC生產(chǎn)制造的步驟,全部IC全是先從圓晶片剛開始生產(chǎn)加工的,當(dāng)圓晶片進行生產(chǎn)制造工藝流程以后,通常都必須開展檢測,隨后能夠封裝,不然將會成片圓片全是技術(shù)參數(shù)不過關(guān),假如立即封裝就會導(dǎo)致?lián)p害。針對圓片的檢測全是選用電極開展檢測的,應(yīng)用材料制做的電極具備必須的延展性,切導(dǎo)電率優(yōu)良,能夠立即扎在圓片的pad上,隨后檢測設(shè)備根據(jù)電極對集成ic釋放電子信號,從而能夠開展技術(shù)參數(shù)的檢測,以辨別圓片上每
在進行晶圓測試時,需要將里面不合格的芯片及時挑選出來,這樣才可以確保產(chǎn)品的質(zhì)量。所以在進行測試的時候,要對芯片進行電性測試,這樣才可以確保芯片在進行密封之前是符合標(biāo)準(zhǔn)的,在進行測試的時候,提高半導(dǎo)體的良率是很重要的,工作人員在進行相關(guān)操作時不能忽視這個問題?,F(xiàn)在制作生產(chǎn)的很多晶圓性質(zhì)都不是很穩(wěn)定,所以在使用期間誤判率也很高,這也是在進行晶圓測試時經(jīng)常會遇到的問題,很多廠家在進行晶圓生產(chǎn)和測試時都會
在進行4568寸片測試時,準(zhǔn)確性和可靠性十分關(guān)鍵,只有在進行測試時較加可靠,才可以為產(chǎn)品的生產(chǎn)和制作提供更多有利條件,這些就是在進行測試時不能忽視的重要因素。所以對于生產(chǎn)廠家來說,測試工作的長久穩(wěn)定性就是關(guān)鍵點,想要提升行業(yè)的競爭力,就要注意測試工作的流程和方法等。通過4568寸片測試可以將更多質(zhì)量可靠的產(chǎn)品推向市場,較好的滿足各個行業(yè)的需求,這樣才可以達到客戶的需求和標(biāo)準(zhǔn),在使用期間也可以較加放
? ??針對技術(shù)專業(yè)的測試工作人員有關(guān)CP測試和FT的測試肯定是十分的了解了,但許多非測試技術(shù)專業(yè)的從業(yè)者對這兩個定義實際上掌握并不象那般刻骨銘心。因此文中將針對這些必須觸碰測試但并不是測試工作人員的人開展有關(guān)CP和FT的測試的解讀。? ? 依照慣例,較先必須再解釋一下什么叫CP測試和FT測試。CP是(ChipProbe)的簡稱,指的是集成芯片在w
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