開(kāi)封, 即開(kāi)蓋/開(kāi)帽 開(kāi)封含義: 開(kāi)封, 即開(kāi)蓋/開(kāi)帽, 指去除ic封膠, 同時(shí)保持芯片功能的完整無(wú)損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受損傷, 為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)備. 去封范圍:* 普通封裝* COB、BGA * 陶瓷、金屬等其它特殊封裝 芯片開(kāi)封機(jī)介紹: 美國(guó)RKD生產(chǎn)的RKD 酸開(kāi)封機(jī)是一臺(tái)自動(dòng)混酸開(kāi)封機(jī),通過(guò)整合了***的特點(diǎn)使得它可以獲得較高的產(chǎn)能。新開(kāi)封機(jī)的設(shè)計(jì)通過(guò)將硝酸、***或混酸***分配到器件上,可以較加快速和*的打開(kāi)較精細(xì)的封裝,而不會(huì)損傷樣品。 RKD Elite Etch 酸開(kāi)封機(jī)內(nèi)包含了眾多工程創(chuàng)新。整體式刻蝕頭組件是由高等級(jí)的碳化硅加工而成,可以非常***的用來(lái)抵抗酸腐蝕。再加上主動(dòng)氮?dú)獗O(jiān)測(cè)和清洗系統(tǒng),這一整體設(shè)計(jì)可以在刻蝕后降低殘留在刻蝕頭上酸的發(fā)煙—而對(duì)于其它沒(méi)如此復(fù)雜的設(shè)計(jì)則是一種常見(jiàn)現(xiàn)象。我們這種整體碳化硅選夠縮短加熱時(shí)間。 器件壓制組件(壓桿芯頭)是由手動(dòng)***的,設(shè)計(jì)用于大量的運(yùn)動(dòng)。壓桿芯頭正常情況是縮回的,并且僅當(dāng)安全蓋完全關(guān)閉后才伸出。壓桿芯頭的垂直移動(dòng)保證器件穩(wěn)定在刻蝕頭上,從而消除了無(wú)論是器件還是夾具的移動(dòng)。 在每次開(kāi)始和結(jié)束刻蝕程序后,安全蓋由手動(dòng)關(guān)閉和打開(kāi)。關(guān)閉安全蓋,開(kāi)始已經(jīng)編制好的刻蝕步驟的程序,打開(kāi)安全蓋將停止所有刻蝕步驟。所有連接到刻蝕盤(pán)的酸管路由快速對(duì)稱(chēng)壓力節(jié)點(diǎn)制成,以消除麻煩的高溫密封問(wèn)題。 **型系統(tǒng)配置 掌上型鍵盤(pán) 操作簡(jiǎn)單不僅僅體現(xiàn)在RKD的軟件設(shè)計(jì)上,即軟件會(huì)持續(xù)檢查和保護(hù)系統(tǒng)防止操作失誤,而且體現(xiàn)在簡(jiǎn)單而直觀的手持式鍵盤(pán)上。只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn),凡是能夠使用手機(jī)的任何人員都可以操作運(yùn)行Elite Etch開(kāi)封機(jī)。 通風(fēng)櫥的空間永遠(yuǎn)都是非常珍貴的,所以我們已經(jīng)設(shè)計(jì)了行業(yè)中***的占地面積,同時(shí)增強(qiáng)了每一個(gè)可能的安全特性。單獨(dú)的熱交換器的引入可以將廢酸溫度降低到90攝氏度以下,這允許進(jìn)一步減小系統(tǒng)尺寸---我們僅僅使用一個(gè)廢酸瓶。 預(yù)見(jiàn)未來(lái) 軟件消除了廢酸瓶溢流的***,可以防止Elite Etch在廢酸瓶沒(méi)有足夠的空間來(lái)完成編輯好的刻蝕程序時(shí)停止繼續(xù)操作。 RKD Engineering是***的集成了真正的雙控制用于所有液體在瓶容器和開(kāi)封機(jī)之間進(jìn)行耦合的公司。內(nèi)部連接是在特氟龍密封的管路內(nèi)運(yùn)行的,它可以由瓶子盒的任何一端來(lái)供給。瓶子容器裝置內(nèi)包含了液體傳感器,當(dāng)酸從任何一個(gè)瓶子中***后都會(huì)給操作員發(fā)出警告。Elite Etch開(kāi)封機(jī)即能夠使用500ml美標(biāo)瓶子,也可以使用日本標(biāo)準(zhǔn)的瓶子。 夾具和附件 RKD 酸開(kāi)封機(jī)能夠使用所有由B&G Internationa(現(xiàn)在是Nisene Technology Group)提供的附件包、墊片和對(duì)準(zhǔn)板。然而,為了顯著降低成本,并且永遠(yuǎn)具有設(shè)計(jì)和切割適用于每一個(gè)和每一只器件類(lèi)型的墊片和對(duì)準(zhǔn)板的能力和優(yōu)勢(shì),我們建議使用 RKD Engineering的μMill. 這臺(tái)Mil的操作非常簡(jiǎn)單,不需要機(jī)械工人的***知識(shí),就能夠快速的使用防酸的AFLAS聚合物材料加工完成高質(zhì)量各種墊片。 系統(tǒng)安全 對(duì)于操作員來(lái)說(shuō),在任何開(kāi)封機(jī)上更換酸瓶都具有一定的風(fēng)險(xiǎn)。我們已經(jīng)設(shè)計(jì)裝配了一個(gè)通用旋轉(zhuǎn)鉸鏈?zhǔn)沟酶鼡Q瓶子時(shí)沒(méi)有任何麻煩。這一通用旋轉(zhuǎn)鉸鏈的詳細(xì)結(jié)構(gòu)顯示如下。另外,瓶子通氣系統(tǒng)可以防止酸氣進(jìn)入瓶子盒內(nèi)。 芯片開(kāi)封及系統(tǒng)規(guī)格參數(shù): 基本規(guī)格尺寸 ? ? ? ? ?(w x d x h) ? ? 開(kāi)封機(jī) ? ? ? ? ? ? ? ?7.5 x 12.5 x 12 inch ?190 x 318 x 305 mm ? ? ? ? ? ? ? 瓶子組件 ? ? ? ? ? ? ?10 x 5 x 11 inch ? 254 x 127 x 279 mm 重量 ? ? ? ? ? ? ? ? ?大約. 35 lbs.(16 Kg) 氣體壓力 ? ? ? ? ? ? ?55 - 70 psi. (N2) or CDA 電源 ? ? ? ? ? ? ? ? ?90 - 250 VAC 酸溫度范圍 ? ? ? ? ? ?20℃- 250℃ 酸溫度設(shè)定值 ? ? ? ? ?1.0℃- 0.1℃ 刻蝕腔(可高達(dá)) ? ? ? ?22 x 22 mm 軟件操作規(guī)格 芯片開(kāi)封機(jī)酸的選擇 : 發(fā)煙***/***/混酸 注意: 所有混合比例都是在泵系統(tǒng)內(nèi)部動(dòng)態(tài)準(zhǔn)備的。 混酸比例 (硝酸到***比例): ? ?9:1, 5:1, 4:1, 3:1, 2:1, 1:1 刻蝕后沖洗選擇:發(fā)煙***/***/混酸/無(wú)沖洗 注意: 酸的沖洗溫度設(shè)定是根據(jù)刻蝕溫度自動(dòng)校準(zhǔn)的。 刻蝕時(shí)間: 1 - 1,800 seconds ( 1秒的增加幅度) 注意: 刻蝕時(shí)間能夠在刻蝕期間動(dòng)態(tài)調(diào)整。? 刻蝕形式 - ? ? ? ? ? ? ? (i) 脈沖刻蝕 (ii) 往復(fù)刻蝕 – 酸脈動(dòng) 刻蝕溫度范圍? 20℃- 90℃ (硝酸) 20 - 250℃(***)
詞條
詞條說(shuō)明
X光無(wú)損檢測(cè) 祝大家新年快樂(lè),2020年注定是不平凡的一年,在艱難中開(kāi)始,感恩奮戰(zhàn)在抗疫*的白衣天使,感恩提供**的各級(jí)**,感恩社會(huì)各界的愛(ài)心人士,目前我們對(duì)社會(huì)較好的回報(bào)就是做好本職工作,隔離好自己和身邊的人,多做事,少走動(dòng)。 新新冠狀病毒的到來(lái),讓很多原本的計(jì)劃被打亂被改動(dòng),目前北方市場(chǎng)急需完善的第三方實(shí)驗(yàn)室,專(zhuān)業(yè)的技術(shù),成套的檢測(cè)設(shè)備,為滿足用戶檢測(cè)多樣化,就近服務(wù)的要求,我中心專(zhuān)門(mén)安裝
芯片失效案例分析之EOS** 作為研發(fā)較怕遇到的事情之一就是芯片失效的問(wèn)題,好端端的芯片突然異常不能正常工作了,很多時(shí)候想盡辦法卻想不出問(wèn)題在哪。的確,芯片失效是一個(gè)非常讓人頭疼的問(wèn)題,它可能發(fā)生在研發(fā)初期,可能發(fā)生在生產(chǎn)過(guò)程中,還有可能發(fā)生在終端客戶的使用過(guò)程中。造成的影響有時(shí)候也非常巨大。 芯片失效的原因多種多樣,并且它的發(fā)生也無(wú)明顯的規(guī)律可循。那么有沒(méi)有一些辦法來(lái)預(yù)防芯片失效的發(fā)生呢?這里會(huì)
集成電路的2020年發(fā)展趨勢(shì) 據(jù)了解,2019年由于受世界經(jīng)濟(jì)發(fā)展的增速減緩、整機(jī)廠商的去庫(kù)存化等綜合因素的干擾,**半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)普遍處于下滑態(tài)勢(shì)。 作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)里的關(guān)鍵產(chǎn)品之一,集成電路領(lǐng)域的發(fā)展趨勢(shì)備受關(guān)注。 集成電路(integratedcircuit)是一種微型電子器件或部件??s寫(xiě)為IC;采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半
X射線(X-ray)檢測(cè) X射線(X-ray)檢測(cè)儀是在不損壞被檢物品的前提下使用低能量X 光,快速檢測(cè)出被檢物。 利用高電壓撞擊靶材產(chǎn)生X射線穿透來(lái)檢測(cè)電子元器件、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)構(gòu)造品質(zhì)、以及SMT各類(lèi)型焊點(diǎn)焊接質(zhì)量等[1] 。 型號(hào):XD7500NT 參考標(biāo)準(zhǔn):《IPC-A-610E電子組裝件的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)》、《GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則》
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半導(dǎo)體探針臺(tái)手動(dòng)探針臺(tái)電性測(cè)試探針臺(tái)probe station失效分析設(shè)備wafer測(cè)試芯片測(cè)試設(shè)備
激光開(kāi)封機(jī)laser decap開(kāi)蓋開(kāi)封開(kāi)帽ic開(kāi)封去封裝
開(kāi)短路測(cè)試儀IV自動(dòng)取現(xiàn)量測(cè)儀 芯片管腳測(cè)試 iv曲線
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