高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試前的準(zhǔn)備工作

時(shí)間：2023-07-19作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：53

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

  芯片(chip)，又稱(chēng)微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開(kāi)關(guān)特性以及開(kāi)關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生

• 半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)

  半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試是jin屬、元器件、電子汽車(chē)配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測(cè)試，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過(guò)高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測(cè)出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試需要特別注意，在使用的過(guò)程中不能輕易打開(kāi)半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱，主要原因如下：1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試時(shí)需要用

• 熱風(fēng)循環(huán)烘箱溫度均勻性標(biāo)準(zhǔn)

  熱風(fēng)循環(huán)烘箱的溫度均勻性標(biāo)準(zhǔn)通常取決于具體的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品要求或生產(chǎn)工藝。以下是一般情況下用于評(píng)估溫度均勻性的常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)：溫度偏差：溫度偏差是指烘箱內(nèi)不同位置的溫度之間的差異。常見(jiàn)的標(biāo)準(zhǔn)是溫度偏差在±2°C以?xún)?nèi)。熱風(fēng)循環(huán)烘箱溫度均勻性標(biāo)準(zhǔn)熱風(fēng)循環(huán)烘箱溫度均勻性標(biāo)準(zhǔn)熱風(fēng)循環(huán)烘箱溫度均勻性標(biāo)準(zhǔn)溫度穩(wěn)定性：溫度穩(wěn)定性是指烘箱內(nèi)溫度在設(shè)定值附近的波動(dòng)程度。常見(jiàn)的標(biāo)準(zhǔn)是溫度波動(dòng)范圍在±1°C以?xún)?nèi)。溫度梯度：溫

• 電動(dòng)汽車(chē)用動(dòng)力蓄電池的檢驗(yàn)項(xiàng)目與安全要求

  GB/T31485-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電動(dòng)汽車(chē)用動(dòng)力蓄電池的安全要求、實(shí)驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則。適用于電動(dòng)汽車(chē)的鋰離子蓄電池和金屬氫化物鎳氫電池單體和模塊。單體蓄電池室直接化學(xué)能轉(zhuǎn)換為電能的基本單元裝置，包括電極、隔膜、電解質(zhì)、外殼和端子，并被設(shè)計(jì)成可充電。蓄電池模塊是指將一個(gè)以上的單體蓄電池串聯(lián)、并聯(lián)方式組成且只有一對(duì)正負(fù)極輸出端子，并作為電源使用的組合體。1.檢驗(yàn)項(xiàng)目單體蓄電池/蓄電池模塊試驗(yàn)程序序