冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

時(shí)間：2023-03-21作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：141

廣東宏展科技有限公司專(zhuān)注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 鹽霧試驗(yàn)箱中鹽霧沉降率對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響

  鹽霧沉降率是鹽霧試驗(yàn)的一個(gè)重要參數(shù)，即指單位時(shí)間內(nèi)在單位面積上沉降的鹽霧量，可以反映出噴霧密度和均勻性的特性。鹽霧試驗(yàn)的腐蝕產(chǎn)生，除了受到腐蝕介質(zhì)氯離子本身的作用之外，還受到金屬表面液膜中氧的擴(kuò)散影響。鹽霧顆粒越細(xì)，它所形成的表面積就越大，被吸附的氧量也就越多，腐蝕性也越強(qiáng)。在自然界中，有以上的鹽霧顆粒直徑在1Lm以下。有研究表明直徑1Lm的鹽霧顆粒表面所吸附的氧量與顆粒內(nèi)部溶解的氧量是相對(duì)平衡的

• 芯片研發(fā)過(guò)程中的可靠性測(cè)試有哪些

  一、芯片可靠性測(cè)試比常見(jiàn)的幾種試驗(yàn)：加速測(cè)試：在半導(dǎo)體器件中，常見(jiàn)的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下，加速測(cè)試不改變故障的物理特性，但會(huì)改變觀察時(shí)間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱(chēng)為“降額”。高加速測(cè)試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認(rèn)證測(cè)試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán)：根據(jù) JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)，溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進(jìn)行該測(cè)試時(shí)，將部件反復(fù)暴露

• 深圳ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、深圳快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱

  深圳ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、深圳快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 深圳ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、深圳快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱特點(diǎn) 1. 1. ESS系列允許加速產(chǎn)品溫度變化速率，通過(guò)產(chǎn)品置于高速氣流的環(huán)境； 2. 2. ESS系列環(huán)境試驗(yàn)箱是專(zhuān)為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用而設(shè)計(jì)的，可根據(jù)您的具體需要生產(chǎn)制造環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱； 3. 3. 進(jìn)口彩色觸摸屏控制器,溫度控制穩(wěn)定，溫度過(guò)沖小,操作方便、簡(jiǎn)單； 4. 4. 采用世界

• 中原利達(dá)鐵路軌道技術(shù)發(fā)展有限公司選用宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備！

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