化學(xué)分析法:通過(guò)化學(xué)反應(yīng)來(lái)測(cè)定金屬材料中元素的含量。優(yōu)點(diǎn)是分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠,適用于高精度分析。缺點(diǎn)是操作復(fù)雜,分析速度慢,對(duì)操作人員的技能要求較高。
光譜分析法:利用光譜儀對(duì)金屬材料中的元素進(jìn)行分析。優(yōu)點(diǎn)是分析速度快,適用于大批量分析。缺點(diǎn)是分析精度相對(duì)較低,對(duì)儀器的要求較高。
火花放電**光譜分析法:通過(guò)火花放電激發(fā)金屬材料中的元素,然后利用光譜儀進(jìn)行分析。優(yōu)點(diǎn)是分析速度快,適用于在線分析。缺點(diǎn)是對(duì)儀器的要求較高,分析精度相對(duì)較低。
X 射線熒光光譜分析法:利用 X 射線熒光光譜儀對(duì)金屬材料中的元素進(jìn)行分析。優(yōu)點(diǎn)是分析速度快,適用于在線分析。缺點(diǎn)是對(duì)儀器的要求較高,分析精度相對(duì)較低。
需要注意的是,不同的分析方法適用于不同的金屬材料和分析要求,選擇合適的分析方法需要根據(jù)具體情況進(jìn)行綜合考慮。
分析方法 | 優(yōu)點(diǎn) | 缺點(diǎn) | 樣品要求 |
---|---|---|---|
化學(xué)分析法 | 分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠,適用于高精度分析。 | 操作復(fù)雜,分析速度慢,對(duì)操作人員的技能要求較高。 | 需要一定的樣品量,通常為幾十毫克到幾百毫克。 |
光譜分析法 | 分析速度快,適用于大批量分析。 | 分析精度相對(duì)較低,對(duì)儀器的要求較高。 | 對(duì)樣品的形狀和尺寸要求不高,通??梢灾苯臃治龉腆w、液體和粉末狀樣品。 |
火花放電**光譜分析法 | 分析速度快,適用于在線分析。 | 對(duì)儀器的要求較高,分析精度相對(duì)較低。 | 需要將樣品制成電極形狀,通常為圓柱形或球形。 |
X 射線熒光光譜分析法 | 分析速度快,適用于在線分析。 | 對(duì)儀器的要求較高,分析精度相對(duì)較低。 | 對(duì)樣品的形狀和尺寸要求不高,通??梢灾苯臃治龉腆w、液體和粉末狀樣品。 |
詞條
詞條說(shuō)明
現(xiàn)代產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的優(yōu)化需要準(zhǔn)確可靠的測(cè)量結(jié)果。通過(guò)一種新的檢測(cè)方案,它提供了獨(dú)立于用戶的測(cè)量結(jié)果,具有高精度和重復(fù)性。Gom? ?3d測(cè)量系統(tǒng)對(duì)研發(fā)流程鏈有積極影響。從紙草到維護(hù),測(cè)量解決方案可以廣泛應(yīng)用于不同的工程應(yīng)用中,以節(jié)省時(shí)間和降低成本,并實(shí)現(xiàn)高**的目標(biāo)。應(yīng)用領(lǐng)域:質(zhì)量控制、逆向工程、材料測(cè)試3D掃描三維掃描過(guò)程可以完全獲得物體表面的網(wǎng)格結(jié)果。隨附的GOM軟件為零件和
昆山新到一臺(tái)較新款的ATOS 藍(lán)光3D掃描設(shè)備--有需求趕緊甩過(guò)來(lái)
5月初新到貨一臺(tái)較新款的3D掃描設(shè)備!該設(shè)備采用藍(lán)光窄域波長(zhǎng)投影技術(shù),避免環(huán)境光而不受干擾,可以得到較精確的量測(cè)。光源亮度非常高,在品質(zhì)不佳的表面也能快速完成量測(cè)。藍(lán)光3D掃描 ATOS Capsule 12M 已就位,歡迎咨詢檢測(cè)!?1.3D色階偏差比對(duì)?2.各類(lèi)尺寸分析測(cè)量?3.製程品質(zhì)管控分析?4.逆向抄數(shù)精度較高,效率較快,掃描分析功能較強(qiáng)大!
潤(rùn)濕法做沾錫能力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
國(guó)內(nèi)潤(rùn)濕天平和可焊性測(cè)試的評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)基本依據(jù)IPC-J-STD-002/003而來(lái),包括標(biāo)準(zhǔn)也是參考IPC標(biāo)準(zhǔn)而來(lái)。?富士康華南檢測(cè)中心,電子零組件實(shí)驗(yàn)室測(cè)試可焊性,所用潤(rùn)濕法依據(jù)IEC?60068-2-69標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于通過(guò)潤(rùn)濕法做沾錫性測(cè)試的貼片電子組件。與行業(yè)內(nèi)其他標(biāo)準(zhǔn)相比,IEC標(biāo)準(zhǔn)對(duì)溫度、速率、停留時(shí)間的要求與IPC標(biāo)準(zhǔn)的要求相同;速率要求與GJB的要求不同。但電子
藍(lán)光掃描是一種高精度尺寸測(cè)量方法,可將物體掃描成三維模型,在此基礎(chǔ)上進(jìn)行一系列尺寸測(cè)量。它是通過(guò)在物體表面投射藍(lán)光光柵,使用高精度相機(jī)拍攝產(chǎn)生畸變的光柵圖像,以實(shí)現(xiàn)物體表面三維輪廓的掃描測(cè)量,后經(jīng)過(guò)處理得到物體的三維數(shù)據(jù)模型。特點(diǎn): 1、適應(yīng)各種環(huán)境,即使在不同的環(huán)境條件下,也能保持產(chǎn)品的穩(wěn)定性和精度。 2、現(xiàn)在市場(chǎng)上用得比較多的都是白光的三維掃描儀,但白光的三維掃描儀不如藍(lán)光三維掃描儀抗干擾能力
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