X光鍍層測厚儀使用性能特點有哪些？

時間：2022-06-11作者：蘇州實譜儀器有限公司瀏覽：230

      X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。
X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
X光鍍層測厚儀提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優(yōu)越,而且價錢**值同比其他牌子相同配置的機器。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。**大/開放式的樣品臺，可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)可測量各類金屬層、合金層厚度等。
X光鍍層測厚儀性能特點
1、長效穩(wěn)定X銅光管。
2、三重安全保護模式。
3、整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型簡潔。
4、FP軟件，無標準樣品時亦可測量。
5、半導體硅片電制冷探測器，摒棄元素識別能力較弱的計數(shù)盒。
6、內(nèi)置天瑞儀器研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強器(SNE)與MCA多道分析器。
7、內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品。
8、脈沖處理器，數(shù)據(jù)處理快速準確。
9、X光鍍層測厚儀具有手動開關(guān)樣品腔，操作安全方便。

蘇州實譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測儀器等

• 詞條

  詞條說明

• X光鍍層測厚儀采用磁性和渦流兩種方法進行測厚

  ??????X光鍍層測厚儀可對電鍍液進行分析，不單性能優(yōu)越，而且價錢**值，同比其他牌子相同配置的機器，X光鍍層測厚儀為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。**大/開放式的樣品臺，可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等

• x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢

  ? ? ? ?x熒光鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W

• X光鍍層測厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進行測厚的

  ? ? ? X光鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測儀器。儀器廣泛運用于工業(yè)生產(chǎn)測厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當然在實驗室精細測量中也有運用，包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測

• 有關(guān)x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，以下有詳細解說

  ? ? ? x射線鍍層測厚儀采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示，具備機型小巧、操作簡捷、待機時間長等特點；且具有自動關(guān)機、欠電指示、統(tǒng)計、系統(tǒng)/零點/兩點校準功能。它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。該儀器廣泛應(yīng)用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成如下： 1、