X光鍍層測(cè)厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚的

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：383

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  詞條說明

• 分享一些有關(guān)“X光鍍層測(cè)厚儀”的使用特點(diǎn)

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、

• x熒光鍍層測(cè)厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)

  ? ? ? ?x熒光鍍層測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測(cè)定。? ? ? x熒光鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)

• X光鍍層測(cè)厚儀在日常作業(yè)中都應(yīng)用了哪些原理？

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中廣泛運(yùn)用。這類儀器，根據(jù)其測(cè)量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個(gè)種類：運(yùn)用嶸湎?、馍渚€、y射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；選用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)以及選用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有電容式厚度計(jì)等。? ? ? 此外，運(yùn)用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì)，現(xiàn)在還處在研