MOS管并聯(lián)均流技術(shù)分析 IGBT管并聯(lián)均流技術(shù)分析 BJT 管并聯(lián)均流技術(shù)分析 普通的功率MOSFET因為內(nèi)阻低、耐壓高、電流大、驅(qū)動簡易等優(yōu)良特性而得到了廣泛應(yīng)用。當單個MOSFET的電流或耗散功率不滿足設(shè)計的需求時就遇到了并聯(lián)mos管的問題。并聯(lián)mos管的兩大問題,其一就是mos管的選型,其二就是mos管參數(shù)的篩選。 首先我們測試從某網(wǎng)店購買的IRF4905型PMOS管。從圖中可見此PMOS管的字符與常見的IR公司器件有較大差異,遂使用DF-80A型二極管正向壓降測試儀對此mos管進行實際的ID-VDS曲線測試。先從官網(wǎng)下載IRF4905的ID-VDS曲線,可見當Vgs為-6.5V時,Id約在90A時恒流。 用二極管測試儀DF-80A連接待測MOS管,測試儀輸出正極接IRF4905的S較,測試儀的負極接IRF4905的D較,用線性穩(wěn)壓電源加電位器接到IRF4905的G較,調(diào)節(jié)電位器,使Vgs=-6.5V。 實際測試:ID掃描范圍:0-100A,測試脈寬300微秒??傻玫揭粋€奇怪的測試曲線,與數(shù)據(jù)手冊中的曲線并不一致,在85A附近類似恒流趨勢,但是隨后曲線發(fā)生轉(zhuǎn)折,變成了近似恒壓曲線。敲開該mos管發(fā)現(xiàn),內(nèi)部晶片僅芝麻粒大小。 從手冊上可得該PMOS管的電流可達74A,顯然此批料為假貨。如果購料后沒經(jīng)過測試即上機,幾乎必然出現(xiàn)炸管事故。 我們再從本地電子市場購買一管IRF4905。再次用DF-80A型二極管正向特性測試儀測量ID-VDS曲線。參數(shù)同上:ID掃描范圍:0-100A,300us脈沖寬度。測量結(jié)果如下:該曲線與數(shù)據(jù)手冊的描述相符。 進一步解剖結(jié)果顯示,該PMOS管晶片面積大,且金屬部分呈紫銅色,與假芯片MOS管形成了鮮明對比。而且使用DF-80A型二極管正向壓降測試儀測試時,ID電流均是脈沖形式,平均功率很低,所以待測MOS管均不明顯發(fā)熱,保護器件不受損。 選定了MOS管的供應(yīng)商后將挑選參數(shù)盡量一致的MOS管。我們用16只IRF4905管并聯(lián)做并聯(lián)分流,這些MOS管源較并聯(lián),柵較通過電阻網(wǎng)絡(luò)連接,漏較懸空待測。測試方法同上。利用該軟件的Excel數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能,可以很方便的比較每個MOS管的特性曲線。 圖為16只MOS管的ID-VDS曲線,使用Excel的繪制折線圖功能生成。該曲線清晰展示了有4只mos管的導(dǎo)通電阻小于其余的MOS管,這些MOS管工作時將流過較大的電流,易受損。因此將這四只MOS管換新后,16條ID-VDS曲線近乎**重合,達到了并聯(lián)使用要求。
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正負干擾抵消電光調(diào)Q干擾消除方法分析 高壓窄脈沖干擾消除方法分析*二版 電光調(diào)Q是一種高壓窄脈沖,具有高電壓、大電流、寬頻帶范圍強干擾的特性,電子設(shè)備在如此干擾的環(huán)境中,往往出現(xiàn)死機、誤動作、花屏、甚至燒損等故障,這類故障的形成原因復(fù)雜,使用傳統(tǒng)的處理故障手段力所不及。一般情況下,電光調(diào)Q形成單向高壓脈沖,雖然采用濾波,屏蔽等手段,能夠降低干擾到原來的10%;但是任然不能滿足精密測試的要求;較高等
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MOS管并聯(lián)均流技術(shù)分析 IGBT管并聯(lián)均流技術(shù)分析 BJT?管并聯(lián)均流技術(shù)分析 ? ? 普通的功率MOSFET因為內(nèi)阻低、耐壓高、電流大、驅(qū)動簡易等優(yōu)良特性而得到了廣泛應(yīng)用。當單個MOSFET的電流或耗散功率不滿足設(shè)計的需求時就遇到了并聯(lián)mos管的問題。并聯(lián)mos管的兩大問題,其一就是mos管的選型,其二就是mos管參數(shù)的篩選。 首先我們測試從某網(wǎng)店購買的IRF4
長春艾克思3相逆變電源UPS順利通過EMC認證 近日,長春艾克思科技有限責任公司研制的3相逆變電源UPS產(chǎn)品順利通過EMC測試,標志著AIKS品牌逆變電源**了進入國外市場的通行證,此項殊榮是一次一突破性的認證。 ??眾所周知,由于逆變電源固有的特點,自身產(chǎn)生的各種噪聲形成一個很強的電磁干擾源,所產(chǎn)生的干擾隨著輸出功率的增大而明顯地增強,使整個電網(wǎng)的諧波污染狀況愈加嚴重。對電子設(shè)備的正常運行構(gòu)成了
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