FE3000膜厚儀給您好的建議,蘇州大塚電子公司

時間：2020-03-09

作者：大塚電子(蘇州）有限公司

FE3000反射式膜厚量測儀:產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。高精度、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量

電流-**效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

光纖在較度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統(tǒng)時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發(fā)光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口（圖上顯示）來進行確認。請將激發(fā)波長設置到可視光范圍內確認。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、**EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

關于冷卻水的更換沒有特定的時間要求，可目視，發(fā)現(xiàn)水有污垢時請更換冷卻水。更換時請用自來水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會和空氣中的CO2結合形成酸性環(huán)境，從而導致冷卻裝置內部遭到腐蝕）。

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FE3000膜厚儀給您好的建議,蘇州大塚電子公司
FE3000反射式膜厚量測儀:產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。高精度、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。可在軟件上設定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量電流-**效率曲線電流-光通量曲線電流-功率曲線電流-色溫曲線電流-色坐標曲線電流-顯色性曲線電流-電壓曲線光纖在較度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎
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