MCPD9800光譜儀承諾守信

時間：2020-03-07作者：大塚電子(蘇州）有限公司瀏覽：86

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紫外吸收光譜有多種表示方法，圖形隨表示方法不同而異。有以logε作縱坐標，波長為橫坐標；有橫坐標為波數(shù)和頻率；自動光學(xué)檢查(AOI,AutomatedOpticalInspection)為工業(yè)自動化有效的檢測方法，使用機器視覺做為檢測標準技術(shù)，大量應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業(yè)制程上，在民生用途則可延伸至保全系統(tǒng)。有以波長作橫坐標，縱坐標分別為摩爾消光系數(shù)ε，吸光度和百分透光率的。自動分析儀描繪的曲線其縱坐標為投射比T或吸光度A，此曲線高度隨溶液濃度而變，適用于定量分析。

1. 同一濃度的待測溶液對不同波長的光有不同的吸光度；2. 對于同一待測溶液，濃度愈大，吸光度也愈大；3. 對于同一物質(zhì)，不論濃度大小如何，較i大吸收峰所對應(yīng)的波長(較i大吸收波長 λmax) 相同，并且曲線的形狀也完全相同。




?光學(xué)測量是光電技術(shù)與機械測量結(jié)合的高科技。借用計算機技術(shù)，可以實現(xiàn)快速，準確的測量。方便記錄，存儲，打印，查詢等等功能。據(jù)介紹，光學(xué)測量主要應(yīng)用在現(xiàn)代工業(yè)檢測，主要檢測產(chǎn)品的形位公差以及數(shù)值孔徑等是否合格，主要應(yīng)用的行業(yè)領(lǐng)域有：金屬制品加工業(yè)、模具、塑膠、五金、齒輪、手機等行業(yè)的檢測，以及工業(yè)界的產(chǎn)品開發(fā)、模具設(shè)計、手扳制作、原版雕刻、RP快速成型、電路檢測等領(lǐng)域。 主要儀器表現(xiàn)為：二次元、工具顯微鏡、光學(xué)影像測量儀、光學(xué)影像投影儀、三次元、三坐標測量機、三維激光抄數(shù)機等 除此之外非接觸檢測技術(shù)的應(yīng)用在機械制造行業(yè)中，為了使機加工的產(chǎn)品能達到設(shè)計精度和質(zhì)量要求。使用紫外光譜儀時需要注意什么使用環(huán)境溫度不能太高光譜儀在使用時如果環(huán)境溫度太高，也會影響光譜儀的測量精度，會出現(xiàn)位移偏差，所以一般情況下，光譜儀都是默認在常溫環(huán)境下使用。




大塚電子(蘇州）有限公司專注于電技術(shù)的研發(fā),光電系統(tǒng)集成產(chǎn)品,工業(yè)測定和分析設(shè)備等

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