X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料,并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同,從而使膠片感光不一樣,于是在底片上形成黑度不同的影像,據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗方法。
當X射線穿透物質時,由于射線與物質的相互作用,將產(chǎn)生一系列較為復雜的物理過程,其結果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,強度相應減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實質是根據(jù)被檢驗工件與其內(nèi)部缺欠介質對射線能量衰減程度不同,而引起射線透過工件后強度差異,使感光材料(膠片)上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影,經(jīng)過暗室處理后獲得缺欠影像,再對照標準評定工件內(nèi)部缺欠的性質和底片級別。
X射線探傷除照相法外,還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法。
1.X射線照相法
這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏,當膠片被X射線照射而感光后,復經(jīng)顯影,即可顯現(xiàn)出不同的感光程度。若射線的強度越大,則膠片的感光越多,顯影后的黑度就越大。當某處與周圍對比的黑度較大時,則可確認存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應性強,同時膠片可長期保存待查。但程序較多、費時、成本較高。
2.X射線熒光屏觀察法
X射線透過被檢查物體后,把不同強度的射線,再投射在涂有熒光物質的熒光屏上,激發(fā)出不同強度的熒光而得到物體的影像。如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像,就稱為X射線熒光屏觀察法。
熒光屏觀察法所用的設備是X射線發(fā)生器及其控制設備;熒光觀察屏;觀察和記錄用的輔助沒備;防護及傳送設備等。
3.X射線電視觀察法
X射線照相法既費工時,又不經(jīng)濟,不適宜于批量生產(chǎn)的工廠。然而,X射線熒光屏觀察法由于成象的光亮度差、靈敏度低,并且大多在熒光透視箱內(nèi)進行,故也未廣泛采用。隨著光電微光技術的發(fā)展,微光象增強器和攝象管得到重視和廣泛應用。
詞條
詞條說明
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