測厚儀按照測量方式可分為接觸式和非接觸式。接觸式測厚儀通過儀器與樣品表面接觸測量,從而得知測量結(jié)果。而有些樣品的表面容易破壞不宜測量,則衍生出各種非接觸式測量方法,測厚儀的檢測方法及測量注意事項。
1.涂層測厚儀
采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以*地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。
2.X射線測厚儀
利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為**,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度。
主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
3.薄膜測厚儀
使用兩個激光傳感器安裝在被測物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上,確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的移動傳感器*開始對其表面進行采樣,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離,測量值通過串口傳輸?shù)接嬎銠C,再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理,得到目標的厚度值。
測厚儀測量注意事項如下:
1、時間停止試驗應(yīng)注意金屬磁性和名義粗糙度應(yīng)與試件組的規(guī)模。
2、頭部的側(cè)面和垂直于名稱樣品的測量。
3、測量中應(yīng)注意基體金屬的臨界厚度,如果厚度的測量不受基體金屬厚度的影響。
4、測量應(yīng)注意試樣的曲率對測量的影響。因此,在測量的測量彎曲的名稱可以不依賴。
5、小心不測內(nèi)眼角靠近試樣的邊緣,因為試樣形狀改變個人的厚度是名非常敏感。
6、測量前應(yīng)注意電氣設(shè)備的剩余不會產(chǎn)生磁場,如果它會影響磁性測厚方法。
7、時間停止試驗應(yīng)注意與試件的被檢儀器直接對戰(zhàn),所以在頭的超聲波測厚儀停止材料的附件。
8、在壓力保持恒定,測量,否則會影響測量的讀數(shù)。
以上就是一六整理分享的關(guān)于測厚儀的檢測方法及測量注意事項,希望可以幫助到大家。想了解更多相關(guān)資訊,歡迎持續(xù)關(guān)注。
詞條
詞條說明
鍍層分析時,XRF鍍層測厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為厚度測量值。在進行測量時,X射線管產(chǎn)生的高能量x射線通過光圈聚集,并照射在樣品非常小的區(qū)域(該區(qū)域的大小為光斑尺寸)。這些X射線與光斑內(nèi)元素的原子相互作用。鍍層測厚儀的應(yīng)用范圍越來越廣泛,市場上的品牌也越來越多,我們在選擇的時候往往非常糾結(jié),不知道如何才能選擇到合適的產(chǎn)品。那今天就跟著鍍層測厚儀廠家一六儀器的小編來了解一下吧。鍍層測厚儀有國產(chǎn)的也有進口的,
我司生產(chǎn)的XTU-4C/XD-1000兩款型號的X熒光光譜儀,搭配四準可切換準直器,較小可選用0.03*0.2mm的準直器,搭配大面積窗接收器,5-10s的測試時間便可以出鍍層厚度,且同時分析出成分占比,且XD-1000型號的rohs測厚儀,可進行自動編程,可以對焊帶上多點進行編程測試,檢測鍍層的均勻性。接下里和一六儀器一起了解一下X熒光光譜儀的正確操作方法。X熒光光譜儀操作方法:1、本儀器采用X
大家好,今天小編為大家分享的是連接器鍍層測厚解決方案。?連接器(Connectors),在國內(nèi)亦稱為接插件、插頭和插座,扮演著電路或光通道連接的重要角色。它是一種功能元件,借助電信號或光信號以及機械力量的作用,實現(xiàn)電路或光通道的接通、斷開或轉(zhuǎn)換。連接器在各種領(lǐng)域如航空、通訊、計算機、工業(yè)等中,起著連接電信號或光信號的關(guān)鍵作用,確保信號傳輸?shù)臏蚀_和穩(wěn)定。本文將聚焦于連接器中的接觸件表面鍍層
X熒光光譜儀根據(jù)用途和設(shè)計針對性有很多俗稱:如X熒光測厚儀、X-ray膜厚儀、光譜測厚儀等,隨著技術(shù)的不斷發(fā)展進步,X熒光光譜儀在非常多的領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用,對于企業(yè)發(fā)展提供了很大的助力,很多人在購買X熒光光譜儀的時候不知道看什么,實際上X熒光光譜儀性能評估需要注意三要素,今天跟著X熒光光譜儀廠家來了解一下吧。1.較小測量面積:性能好的儀器較小測量直徑可以到0.1mm以下。2.可測樣品形狀的復(fù)
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
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