手持式光譜儀
是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成,其特點(diǎn)是具有高的分辨率和信噪比,形狀小巧,可快速檢測(cè)分析出產(chǎn)品屬性,以數(shù)字或者趨勢(shì)圖展示,是很方便的一種儀器儀表工具。
詞條
詞條說(shuō)明
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來(lái),X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種
鍍鋅層測(cè)厚儀是涂層測(cè)厚儀的一種。常規(guī)涂層測(cè)厚儀分磁感應(yīng)和渦流兩種,高頻渦流是另外一種高度的涂層測(cè)厚,ROHS光譜儀儀器很高。磁感應(yīng)測(cè)厚儀,探頭發(fā)出磁場(chǎng),可以在磁性材料上形成磁性,非磁性涂層的大小,會(huì)影響這個(gè)磁性的大小,從而測(cè)量出對(duì)應(yīng)的涂層厚度。渦流測(cè)厚儀,探頭發(fā)出電渦流信號(hào),可以在導(dǎo)電材料上形成渦流,非導(dǎo)電涂層的厚薄,會(huì)影響這個(gè)渦流場(chǎng)的大小,從而計(jì)算出對(duì)應(yīng)的涂層厚度。這兩種方法的ROHS光譜儀儀器
歐盟REACH法規(guī) ROHS法規(guī) ELV法規(guī)
歐盟REACH法規(guī) ROHS法規(guī) ELV法規(guī)歐盟REACH法規(guī)于2008年6月1日正式實(shí)施,全稱為“Registration,Evaluation,AuthorisationandRestrictionofChemicals”化工品申請(qǐng)注冊(cè)、評(píng)估、許可證和限制法規(guī)。SVHC:substanceofveryhighconcern(密切關(guān)注物質(zhì))是歐盟REACH法律法規(guī)要求的一種有害物質(zhì)。受權(quán)物質(zhì):指
鍍層膜厚儀性能特點(diǎn)滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果較加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)技術(shù)指標(biāo)型號(hào):Thick 800
聯(lián)系人: 李經(jīng)理
電 話:
手 機(jī): 18550531168
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地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮(zhèn)青陽(yáng)北路860號(hào)
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X熒光手持ROHS檢測(cè)儀 朝陽(yáng)包裝材料手持ROHS光譜儀 用于五金行業(yè)
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