江蘇手持x射線熒光光譜儀

時間：2021-04-29作者：昆山市周市牧亞凱機電設備商行瀏覽：241

X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。



近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得較多也較廣泛。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

優(yōu)缺點：
優(yōu)點: 　　a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 　　b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在**軟X射線范圍內，這種效應較為顯著。波長變化用于化學位的測定 。 　　c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。 　　d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。 　　e) 分析精密度高。 　　f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 　　缺點： 　　a）難于作**分析，故定量分析需要標樣。 　　b）對輕元素的靈敏度要低一些。 　　c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
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  詞條說明

• X熒光光譜儀做ROHS檢測的優(yōu)勢

  選擇是X熒光光譜儀?很多人都有這樣的疑問，X-射線熒光光譜儀是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X-熒光)。說起來很復雜，其實這就是一種檢測有毒物質的檢測儀!尤其適合ROHS的檢測!ROHS2.0剛剛通過，在有毒物質方面，各國的檢測標準都有嚴格的要求，很多企業(yè)因此損失嚴重，ROHS檢測需要有實驗室和團隊完成，而國內的

• 鍍層厚度測試儀的諸多優(yōu)勢介紹

  鍍層厚度測試儀的工作原理是鍍層厚度測試儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，鍍層厚度測試儀測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。鍍層厚度測試儀優(yōu)勢：耐腐蝕性驗證所用涂料的厚度和化學性，以確保在惡劣環(huán)境中的產品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。

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