雙光束紫外可見分光光度計XF-UV762技術參數(shù)

時間：2015-05-13

UV762雙光束紫外可見分光光度計

該產(chǎn)品是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計，采用了全新的光學系統(tǒng)設計、微機控制和處理數(shù)據(jù)、大屏幕LCD中文窗口顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數(shù)據(jù)。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精確度高；光譜數(shù)據(jù)處理功能強；采用中文人機對話、操作方便，產(chǎn)品外形美觀大方。該產(chǎn)品廣泛用于生物化學、環(huán)境監(jiān)測、商品檢驗、石油化工、黑色和有色冶金等領域，使質量控制、技術鑒定和科學研究所必須的基本設備。UV762雙光束紫外可見分光光度計主要特點：

● 全新的光學系統(tǒng)設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。

● *特的氘燈和鎢燈安裝、光源自動切換及自動尋找較佳位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源較為方便、正確和安全。

● 優(yōu)良的軟件設計和編制，使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜、多波長（1～3λ）測定、動力學測定、1～3次曲線擬合、1～4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。

● 采用大屏幕中文窗口顯示，具有良好的人機對話界面。

技術指標：

● 波長范圍：200nm～1100nm

● 波長較大允許誤差：±0.5nm

● 波長重復性：≤0.2nm

● 透射比較大允許誤差：±0.5%（T）

● 透射比重復性：0.2%（T）

● 光譜帶寬：2nm

● 基線平直度：±0.004A(200nm～1000nm)

● 漂移：≤0.004A/h(500nm處，預熱2小時)

● 雜散光：≤0.15%(T)（在220nm處, 以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定)

其它：

● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz

詞條
詞條說明
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