平面度的檢驗(yàn)方法—鑄鐵平板篇

時(shí)間：2014-11-21作者：河北兆基精模鑄造量具有限公司瀏覽：14

在我國鑄鐵平板標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)定測量鑄鐵平板面在各個(gè)方向（縱、橫、對角、輻射）上的直線度誤差中較

大的一個(gè)直線度誤差，作為鑄鐵平板面的平面度誤差。對小的鑄鐵平板可采用標(biāo)準(zhǔn)平板研點(diǎn)法、塞尺檢

查法等，較大規(guī)格的鑄鐵平板或精度較高的鑄鐵平板可采用間接測量法、光隙基準(zhǔn)法。

一、鑄鐵平板研點(diǎn)法

這種方法是在中小規(guī)格鑄鐵平板利用標(biāo)準(zhǔn)平板，涂色后對鑄鐵平板臺(tái)面進(jìn)行研磨點(diǎn)，檢查接觸斑點(diǎn)

的分布情況，以證明鑄鐵平板臺(tái)面平度情況。使用工具較簡單，但不能得出平面度誤差數(shù)據(jù)。鑄鐵平板

較好采用0.1級精度的加厚標(biāo)準(zhǔn)平板。

二、塞尺檢查法

用一根相應(yīng)長度的鑄鐵平尺，精度為0~1級。在鑄鐵平板臺(tái)上放兩個(gè)等高墊塊，鑄鐵平尺放在墊塊

上，用塊規(guī)或塞尺檢查鑄鐵平板至鑄鐵平尺工作面的間隙，或用平行平尺和百分表測量。如圖：

三、間接測量法

所用的量儀有合像水平儀、自準(zhǔn)直儀等。根據(jù)定義，平面度誤差要按較小條件來評定，即平度度誤

差是包容實(shí)際表面且距離為較小的兩平面間的距離。由于該平行平面，對不同的實(shí)際被測鑄鐵平板平面

具有不同的位置，且又不能事先得出，故測量時(shí)需要先用過渡基準(zhǔn)平面來進(jìn)行評定。評定的結(jié)果稱為原

始數(shù)據(jù)。然后由獲得的原始數(shù)據(jù)再按較小條件進(jìn)行數(shù)據(jù)變換，得出實(shí)際的平面度誤差。但是這種數(shù)據(jù)交

換比較復(fù)雜。在實(shí)際鑄鐵平板生產(chǎn)中，常采用對角線法的過渡基準(zhǔn)平面作為評定基準(zhǔn)，雖然它不是較小

條件，但是較接近較小條件。

對角線法測量鑄鐵平板平面度的方法是：以對角線的過渡基準(zhǔn)平面作評定基準(zhǔn)，對矩形被測表面測

量時(shí)的布線方法如圖所示，其縱向和橫向布線應(yīng)不少于兩個(gè)位置。用對角線法，由于布線的原因，在各

方向測量時(shí)，應(yīng)采用不同長度的支承底座。測量時(shí)首先按布線方式測量出各截面上相對于端點(diǎn)連線的偏

差，然后再算出相對過渡基準(zhǔn)平面的偏差。平面度誤差就是較高點(diǎn)與較低點(diǎn)之差。當(dāng)被測平面為圓形時(shí)

，應(yīng)在夾角為45°的四條直徑方向上檢驗(yàn)。

四、用光線基準(zhǔn)法

用光線基準(zhǔn)法測量鑄鐵平板平面度時(shí)，可采用經(jīng)緯儀等光學(xué)儀器，通過光線掃描方法來建立測量基

準(zhǔn)平面。其特點(diǎn)是，它的數(shù)據(jù)處理與調(diào)整方便，測量效率高，只是受儀器精度的限制，其測量精度不高

。

測量時(shí)，將測量儀器放在被測鑄鐵平板表面，這樣，被測表面位置變動(dòng)對測量結(jié)果有影響，只是儀

器放置部位的表面不能測量。測量議器也可放置于被測表面外，這樣就能沒出全部的被測表面，但被測

表面位置的變動(dòng)會(huì)影響測量結(jié)果。因此，在測量過程中，要保持被測表面的原始位置。此方法要求三點(diǎn)

相距盡可能遠(yuǎn)一些，如圖所示的Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ點(diǎn)。按此三點(diǎn)放置靶標(biāo)，儀器繞軸旋轉(zhuǎn)并逐一瞄準(zhǔn)它們。調(diào)

整儀器掃描平面位置，使與上述所建的平面平行，即靶標(biāo)在這三點(diǎn)時(shí)，儀器的讀數(shù)應(yīng)相等，從而建立基

準(zhǔn)平面。然后，再測出被測表面上各點(diǎn)的相對高度，便可以得到鑄鐵平板表面的平面度誤差的原始數(shù)據(jù)

。

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• 詞條

  詞條說明

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