影響臺式X熒光光譜儀分析時(shí)的測量度的因素有哪些？

時(shí)間：2023-12-15作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：97

臺式X熒光光譜儀現(xiàn)如今已經(jīng)成為眾多領(lǐng)域的普遍檢測方法，可以迅速篩查多種類樣品基質(zhì)如固體、泥漿、粉末、糊狀物、薄膜、空氣過濾物以及其它很多基質(zhì)樣品中的未知成分。影響X熒光光譜儀測量度的因素有很多，比如有儀器本身的性能、工作曲線、測試樣品和測試方法等。接下來小編給大家簡單的介紹下。

X熒光光譜儀的測量度受到多種因素的影響，包括

樣品制備和樣品自身：樣品的均勻性、表面效應(yīng)、粒度和處理方法、存在的譜線干擾、本身的共存元素影響即基體效應(yīng)、樣品的性質(zhì)以及標(biāo)準(zhǔn)樣品的化學(xué)值的準(zhǔn)確性等。

樣品物理狀態(tài)：樣品的顆粒度、密度、光潔度，樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結(jié)晶及沉淀等。

樣品組分分布：樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等。

樣品組成不一致：引起吸收、增應(yīng)的差異造成的誤差。

被測元素化學(xué)結(jié)合態(tài)的改變：樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學(xué)價(jià)態(tài)不同時(shí)，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。

制樣操作：在制樣過程中的稱量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不完全，樣品粉碎混合不均勻，用于合成校準(zhǔn)或基準(zhǔn)試劑的純度不夠等。

工作曲線：工作曲線是指元素之中X射線的強(qiáng)度及樣品當(dāng)中蘊(yùn)含的百分質(zhì)量、含量關(guān)系的曲線，以工作曲線能夠獲取測量特性是X射線強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)化成濃度，所以在測量結(jié)果受到工作曲線較大的影響。其不僅和待測元素、濃度、校正元素因子、增強(qiáng)元素之間的吸收效應(yīng)等相關(guān)的校正值，還關(guān)系到工作曲線樣品的制作、是否存在偏移、適用范圍等。

因此，在使用臺式X熒光光譜儀進(jìn)行測量時(shí)，需要綜合考慮這些因素，以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

創(chuàng)想臺式X熒光光譜儀


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