X熒光光譜儀在檢測分析時采用的定律有哪些

時間：2022-06-09作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：107

X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶w及非導體材料進行分析，近些年在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應用。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。

1、莫塞萊定律

臺式光譜儀發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復雜的綜合性故障，對于解決這種故障應該先從比較容易解決的故障入手。

2、布拉格定律

該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導定律，同時，布拉格定律是波長色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光完全分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。

3、比爾-朗伯定律

比爾-朗伯定律是反應樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。

以上就是X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解多關(guān)于X熒光光譜儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務。公司產(chǎn)品廣泛的應用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。


江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標準片,光譜儀測厚儀等

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