鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量**的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
在生產(chǎn)過(guò)程中,了解涂層干燥或固化所需的時(shí)間往往是十分重要的:對(duì)于多層涂料系統(tǒng),若了解干燥時(shí)間可使操作人員知道下一層何時(shí)開(kāi)始涂裝。涂層的干燥時(shí)間包含許多階段。當(dāng)涂布完成后,涂層在重力作用下落平,一旦涂料開(kāi)始發(fā)生固化,很薄的干燥層開(kāi)始在表面出現(xiàn)。然后涂層繼續(xù)干燥,后經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后,涂層完全固化。
鍍層測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)偶爾會(huì)示值不準(zhǔn),那么下面幾個(gè)問(wèn)題對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響作用,我們來(lái)看看如何應(yīng)對(duì):
1.表面粗糙度和表面清潔度
在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見(jiàn),不論是基體或是覆層,越粗糙,測(cè)量值越不可靠。鍍層測(cè)厚儀為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。
2.探頭測(cè)量板的作用力
鍍層測(cè)厚儀探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測(cè)量值下降?;町a(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?/p>
3.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份
覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)。
4.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁
應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁,根據(jù)鍍層測(cè)厚儀的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
詞條
詞條說(shuō)明
電鍍鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)精密的三維移動(dòng)平臺(tái)的樣品觀測(cè)系統(tǒng)**的圖像識(shí)別輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!開(kāi)機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自
人們常常把手持式光譜儀與火花直讀光譜儀混淆,實(shí)際上,兩個(gè)在原理上有本質(zhì)的不同。手持式光譜儀工作原理:當(dāng)一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內(nèi)層的電子上,這個(gè)X射線束是由手持式光譜儀內(nèi)的X射線管產(chǎn)生的,這個(gè)X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上,電子被激發(fā)后從原子殼內(nèi)層軌道發(fā)生位移,這種位移的發(fā)生是由于從分析儀發(fā)出的X-射線束與在適當(dāng)?shù)能壍辣3蛛娮咏Y(jié)合能發(fā)出的能量差;
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過(guò)鍍層界面,射線返回的信號(hào)發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無(wú)限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難(信號(hào)分不開(kāi))。2、XRF鍍層測(cè)厚儀:俗稱(chēng)X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍:測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U)。
鍍鋅層測(cè)厚儀是涂層測(cè)厚儀的一種。常規(guī)涂層測(cè)厚儀分磁感應(yīng)和渦流兩種,高頻渦流是另外一種高度的涂層測(cè)厚,ROHS光譜儀儀器很高。磁感應(yīng)測(cè)厚儀,探頭發(fā)出磁場(chǎng),可以在磁性材料上形成磁性,非磁性涂層的大小,會(huì)影響這個(gè)磁性的大小,從而測(cè)量出對(duì)應(yīng)的涂層厚度。渦流測(cè)厚儀,探頭發(fā)出電渦流信號(hào),可以在導(dǎo)電材料上形成渦流,非導(dǎo)電涂層的厚薄,會(huì)影響這個(gè)渦流場(chǎng)的大小,從而計(jì)算出對(duì)應(yīng)的涂層厚度。這兩種方法的ROHS光譜儀儀器
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