顱內(nèi)壓監(jiān)護儀:
顱內(nèi)壓監(jiān)護儀是用來連續(xù)測量人體顱內(nèi)壓(ICP)的醫(yī)用設(shè)備,可與腦硬膜外、腦硬膜下、腦室內(nèi)光纖探頭相配,對腦硬膜內(nèi)、外及嬰兒囟門進行顱內(nèi)壓力監(jiān)測。通常分為無創(chuàng)顱內(nèi)壓監(jiān)護儀和有創(chuàng)兩種顱內(nèi)壓監(jiān)護儀,又分為單參數(shù)顱內(nèi)壓監(jiān)護儀和多參數(shù)顱內(nèi)壓監(jiān)護儀。
基本結(jié)構(gòu):
有創(chuàng)顱內(nèi)壓監(jiān)護儀通常由壓力傳感器、輔助生理參數(shù)傳感器、主機組成。用于連續(xù)測量顱腦內(nèi)壓力。
無創(chuàng)顱內(nèi)壓監(jiān)護儀通常由主機、供電電源、顯示器、一個或多個生理參數(shù)功能模塊和報警系統(tǒng)組成 。
工作原理編輯
光纖探頭以光傳感信息,用光纖作為傳輸信息媒介,監(jiān)護時把探頭感受到的患者顱內(nèi)壓轉(zhuǎn)換為差動光信號傳遞給監(jiān)護儀,監(jiān)護儀經(jīng)光電轉(zhuǎn)換,信號反饋,測量后將患者顱內(nèi)壓在監(jiān)護儀面板上加以顯示。
分類:
有創(chuàng)性ICP監(jiān)護
腦室內(nèi)導(dǎo)管監(jiān)測法
側(cè)腦室前角穿刺后,將探頭安置在側(cè)腦室前角內(nèi),另一端經(jīng)三通管連接監(jiān)護儀和腦室引流瓶,此法是臨床上較常用的方法,較其他方法準(zhǔn)確可靠,被稱為ICP監(jiān)護的“金標(biāo)準(zhǔn)”法,但此法因穿刺較深易損傷腦組織,感染率達6%~11%,**腦實質(zhì)內(nèi)置管法的1.7%~4%,ICP急劇增高時腦室發(fā)生變窄或移位,穿刺和置管的難度則相應(yīng)增大。
腦實質(zhì)內(nèi)光纖傳感器監(jiān)測法
將一條帶有傳感器的細(xì)纖維光纜置入腦實質(zhì)內(nèi)進行監(jiān)護。該方法降低了感染和顱內(nèi)出血等風(fēng)險,但準(zhǔn)確性**腦室內(nèi)導(dǎo)管法,也不能具備引流腦脊液的作用。
硬膜外和硬膜下測壓法
一般于側(cè)腦室前角穿刺部位,切開頭皮顱骨鉆孔,將帶有傳感器的探頭置入顱骨內(nèi)板與硬腦膜之間或硬腦膜與軟腦膜之間,這兩種方法探頭安置方便,感染風(fēng)險下降,損傷較輕,但易引起硬膜反應(yīng)性增厚,因此降低了敏感性,且準(zhǔn)確性相對較差。
無創(chuàng)性ICP監(jiān)護
由于創(chuàng)傷性ICP監(jiān)護法安置探頭需開顱,操作復(fù)雜,損傷大,且易感染,從上世紀(jì)八十年代起,無創(chuàng)性測壓理論逐漸進入科學(xué)家們的視野,現(xiàn)已成為研究的一大熱點和難點。報道較多的無創(chuàng)性監(jiān)測法如下。
經(jīng)顱多普勒法
搏動指數(shù)(gosling pulsatility index,PI)=(收縮峰血流速度-舒張期末血流速度)/平均速度,ICP增高時腦底大動脈舒張期血流速度減少,收縮峰變尖,PI增加。基于ICP與PI這種相關(guān)性,經(jīng)顱多普勒通過監(jiān)測腦底大動脈血流速度來間接反映ICP變化。但由于腦血管活性易受其他多種因素影響,且不同個體差異較大,PI與ICP之間的相關(guān)性缺乏特異性,故TCD法還不能成為可靠、有效的ICP監(jiān)測手段。
經(jīng)前囟測壓法(AFP)
AFP法僅適用于**于骨緣的前囟,但下壓外突的前囟可增高ICP,對患兒造成不利。
閃光視覺誘發(fā)電位法(f-vep)
1984年YorkD發(fā)現(xiàn)視覺誘發(fā)電位的*二負(fù)向波(N2波)的延遲時間與顱內(nèi)壓具有直接線性相關(guān)關(guān)系,通過測量N2波的延遲時間,求得顱內(nèi)壓值,2001年Desch證實了此規(guī)律,國內(nèi)也有文獻支持f-vep監(jiān)護法的敏感性和準(zhǔn)確性。但此方法也具有局限性:易受腦代謝因素如PaCO2、PO2、pH及BP等影響;嚴(yán)重視力障礙、眼底出血等眼部疾病,或顱內(nèi)占位壓迫、破壞視通路時,均對f-vep存在影響;部分深昏迷或腦死亡患者f-vep消失 。
適應(yīng)證:
臨床適用于腦積水、腦水腫、顱內(nèi)出血 、腦室膜炎、結(jié)核性腦膜炎、顱內(nèi)占位性病變、腦手術(shù)后或腦外傷、腦脊液分泌過多循環(huán)或吸收障礙、顱內(nèi)高壓時作控制腦脊液引流減壓、顱內(nèi)高壓危象或腦積水等做顱內(nèi)減壓、腦室膜炎需局部注藥**等情況。
國內(nèi)外大多數(shù)學(xué)者主張對重型顱腦損傷伴昏迷患者行顱內(nèi)壓監(jiān)護,而對輕、中型者要根據(jù)頭部CT有無異常而決定。各個學(xué)者提出的具體標(biāo)準(zhǔn)雖有不同,但相差不大。Narayan提出,入院時CT掃描未見血腫,但有強直體位、血壓**90mmHg或年齡40歲以上應(yīng)常規(guī)監(jiān)測,有利于早期發(fā)現(xiàn)遲發(fā)性血腫。在重型顱腦損傷病人中,可對下述四項存在兩項者,無論CT掃描有無異常,均應(yīng)進行顱內(nèi)壓監(jiān)測。另外有休克、低氧血癥、高碳酸血癥等因素可引起顱內(nèi)壓增高者可行顱內(nèi)壓監(jiān)測。
GCS評分在8分以下;
頭顱CT掃描有異常發(fā)現(xiàn);
顱內(nèi)血腫清除術(shù)后;
年齡在40歲以上,動脈收縮壓小于90mmHg。
判斷預(yù)后:
ICP>40mmHg是腦功能損害的危險閾限在國內(nèi)外得到認(rèn)可。一般認(rèn)為:ICP**40mmHg時預(yù)后良好,ICP持續(xù)**40mmHg,病死率可高達90%,ICP持續(xù)>50~60mmHg時,其病死率幾乎接近**。我們可以得出為提高預(yù)后應(yīng)力爭將顱內(nèi)壓控制在40mmHg以下。
注意事項:
顱內(nèi)壓是指顱內(nèi)壓力與大氣壓之間的差別,因而在測壓前首先要將測壓裝置的壓力調(diào)到與大氣壓相等,即調(diào)零,并將這一數(shù)據(jù)作一記錄,以**監(jiān)護儀測壓的精確度。
電子傳感器受溫度影響可產(chǎn)生零位漂移,應(yīng)用后常需多次調(diào)零。
采用顱外傳感器測壓法,傳感器需與和腦室保持在同一水平,有學(xué)者提出以耳廓上沿為標(biāo)志,注意勿壓腦室引流管及三通管。
保持傷口處清潔干燥,1~2d換藥一次,引流管接頭處每日消毒1~2次。
監(jiān)護時間以3~4d為宜,時間過長增加感染機會,個別監(jiān)護時間較長者應(yīng)每隔數(shù)日及停止監(jiān)護前送腦脊液培養(yǎng)及常規(guī)化驗。
若出現(xiàn)顱內(nèi)感染,應(yīng)立即停止監(jiān)護。
監(jiān)護過程中,及時記錄引起顱內(nèi)壓變化的因素。盡量避免引起顱內(nèi)壓變化的非顱內(nèi)因素,以保證顱內(nèi)壓監(jiān)護的可靠性。
如呼吸道梗阻應(yīng)及時清除,必要時行氣管切開;躁動者應(yīng)給予適量的鎮(zhèn)靜劑;高熱者則需積極降溫;行腦脊液引流期間定期關(guān)閉引流管測壓;體位宜選頭高腳低,以利顱內(nèi)靜脈回流。
顱內(nèi)壓力過高及監(jiān)護時間過長可引發(fā)腦脊液漏,此時應(yīng)首先封堵漏口,再查明原因,采取相應(yīng)處理。
據(jù)文獻報道出血率<15%,為避免出血,置管過程中勿反復(fù)穿刺,置管后應(yīng)避免腦脊液引流過快或?qū)B內(nèi)壓降的過低 。
參考資料
1. 醫(yī)療器械分類目錄 .國家食品藥品監(jiān)督管理總局[引用日期2019-02-21]
2. 魏盈勝,江榮才.顱內(nèi)壓監(jiān)護的若干問題[J].臨床神經(jīng)外科雜志,2012,(2):120-122.
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詞條
詞條說明
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