直讀光譜儀檢定過(guò)程中常見(jiàn)問(wèn)題的原因分析

時(shí)間：2018-11-03作者：江蘇力彩科技有限公司瀏覽：74

gnr直讀光譜儀檢定過(guò)程中常見(jiàn)問(wèn)題的原因分析

1、鋼樣激發(fā)后的激發(fā)點(diǎn)處呈現(xiàn)一黑圈。原因大概有以下幾種：

1）氬氣的火花臺(tái)出口管路堵塞可能會(huì)導(dǎo)致該現(xiàn)象。

2）儀器的火花臺(tái)需要清理了，特別是排放廢氣的管子。

3）黑圈的黑度和大小與材料有關(guān)，一般碳含量高的中低合金鋼黑圈顏色相對(duì)深。如果黑圈顏色偏深，而且擴(kuò)大，成擴(kuò)散狀也可能是發(fā)光臺(tái)磨損、試樣不平整或者放置試樣的時(shí)候半邊漏氣。

4）激發(fā)條件發(fā)生變化，使激發(fā)后點(diǎn)子的顏色出現(xiàn)異常。激發(fā)能量大時(shí)黑度可能較大。

5）激發(fā)電極的積碳現(xiàn)象。更換電極時(shí)，電極與試樣的距離不合適，造成積碳。

2、碳元素穩(wěn)定性較差

由于碳是非金屬元素，其特征譜線波長(zhǎng)較短，*被空氣中的氧氣和水蒸氣吸收，所以當(dāng)出現(xiàn)穩(wěn)定性較差時(shí)，首先要檢查光譜室真空度和氬氣的純度，真空度差會(huì)導(dǎo)致碳元素的靈敏度下降。氬氣不純會(huì)導(dǎo)致分析數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，特別是短波元素如碳元素。另外檢查火花臺(tái)和電極頭是否需要進(jìn)行清理。放置光譜儀的房間溫濕度是否合適，較佳溫度應(yīng)控制在18-25℃左右，相對(duì)濕度小于70%為宜。

3、某些元素重復(fù)性差

在正常激發(fā)的情況下，連續(xù)激發(fā)十點(diǎn)，總有2~3點(diǎn)不正常，可能是以下原因造成的：積分電容是否發(fā)生故障，基體強(qiáng)度是否存在大幅下降；再者氬氣的質(zhì)量是否達(dá)標(biāo)，檢查氣體流量波動(dòng)是否較大；光纖老化，激發(fā)室清理不干凈導(dǎo)致對(duì)壁放電，光電倍增管可能發(fā)生故障等。另外，激發(fā)時(shí)看**強(qiáng)度，會(huì)做出較準(zhǔn)確的判斷。

近年來(lái)，隨著國(guó)民經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展，國(guó)外鑄造業(yè)、制造業(yè)大量向國(guó)內(nèi)轉(zhuǎn)移。快速、準(zhǔn)確地分析金屬合金成分的直讀光譜儀的使用數(shù)量正在逐年增加，企業(yè)對(duì)于儀器的計(jì)量需求也越來(lái)越高。在使用過(guò)程中，能夠快速高效的鑒別并解決檢定過(guò)程中出現(xiàn)的異?，F(xiàn)象，才能實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的正確判定，提高檢定效率。


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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 便攜式光譜儀的特點(diǎn)有哪些？

  便攜式光譜儀便攜式光譜儀廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、金屬加工、汽車制造、有色、航空航天、兵器、化工等領(lǐng)域的生產(chǎn)過(guò)程控制，中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)等，可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多種金屬及其合金樣品分析。可對(duì)片狀、塊狀以及棒狀的固體樣品中的非金屬元素（C、P、S、B等）以及金屬元素進(jìn)行準(zhǔn)確定量分析。 1、主要特點(diǎn) -強(qiáng)大的電池功能以及模塊化設(shè)計(jì)適合各種復(fù)雜環(huán)境的檢測(cè)需要。

• 直讀光譜儀檢測(cè)故障排查：為什么你測(cè)不了棒材？

  隨著生產(chǎn)技術(shù)和科研水平的快速發(fā)展，化學(xué)法分析棒材在一些領(lǐng)域已經(jīng)被**的儀器分析所取代，利用原子**光譜法的直讀光譜儀就是現(xiàn)代檢測(cè)棒材的一種常用儀器。 在使用直讀光譜儀檢測(cè)棒材時(shí)，需要使用適配器進(jìn)行輔助檢測(cè)。操作上雖然較簡(jiǎn)單，可實(shí)際使用中依舊*遇到些問(wèn)題，導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果差異很大。下面gnr直讀光譜儀小編將通過(guò)一個(gè)案例分享，來(lái)看看棒材到底該如何檢測(cè)？ 三種不同粗細(xì)的棒材，而它們分別需要不同的檢測(cè)方法。

• 原子吸收光譜儀故障排除

  故障排除，首先應(yīng)分析原因。儀器故障產(chǎn)生的原因和出現(xiàn)的現(xiàn)象是錯(cuò)綜復(fù)雜的。必須小心觀察故障現(xiàn)象，認(rèn)真檢測(cè)和細(xì)致地分析比較，才能找出故障所在。由于儀器型號(hào)繁多，結(jié)構(gòu)、線路和功能差別較大，要詳細(xì)討論一起產(chǎn)生故障的原因和排除方法，必須針對(duì)具體儀器來(lái)分析，需參考廠家的儀器線路圖、說(shuō)明書(shū)和維修手冊(cè)。這里僅從操作者正確使用和分析角度就一些共同性的常見(jiàn)的故障問(wèn)題作簡(jiǎn)要討論 (一)儀器顯示系統(tǒng)故障 1.電源顯示器不亮

• 五種探傷儀探傷方法

  五大方法是指射線探傷法、超聲波探傷法、磁粉探傷法、渦流探傷法和滲透探傷法。 1、射線探傷方法 射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來(lái)探傷的方法。這些射線可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來(lái)接收。常用于探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(guò)（照射）物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線強(qiáng)度減弱得越多，即射線能穿透過(guò)該物質(zhì)的強(qiáng)度就越小。此時(shí)，若用照相底片接收，則底片