環(huán)境試驗(yàn)與環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備相關(guān)其他(基礎(chǔ))標(biāo)準(zhǔn)目錄

時(shí)間：2016-11-18作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：174

環(huán)境試驗(yàn)與環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備相關(guān)其他(基礎(chǔ))標(biāo)準(zhǔn)目錄



1.GB11605-89      濕度測(cè)量方法 2.GB191-2000      包裝儲(chǔ)運(yùn) 圖示標(biāo)志 3.GB6999-86       環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表 4.GB7248-87       電光源的安全要求 5.GB9706.1-1995   醫(yī)用電氣設(shè)備 *1部分:安全通用要求 6.GB/T13264-91    不合格品率的小批計(jì)數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表 7.JB/T7461-94     實(shí)驗(yàn)室儀器產(chǎn)品檢驗(yàn)規(guī)則 8.JJF1059-1999    測(cè)量不確定度評(píng)定與表示 9.Q/WD007-2001    環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備包裝 技術(shù)條件 10.Q/WD008-2001   環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備  包裝箱




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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品貯存環(huán)境指南

  ?多數(shù)半導(dǎo)體電子元器件都需要在干燥條件下作業(yè)和存放，潮濕的環(huán)境會(huì)腐蝕損壞各類敏感的半導(dǎo)體電子元器件,精密光學(xué)器件等，特別是當(dāng)半導(dǎo)體電子元器件、芯片等原料長(zhǎng)期暴露在高濕空氣環(huán)境中時(shí)，如果不及時(shí)采取有效的防潮措施就會(huì)導(dǎo)致元件報(bào)廢，并且非常多電子元件是半導(dǎo)體設(shè)備的**零件，這樣將會(huì)直接損壞設(shè)備，影響設(shè)備的正常使用，半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)的工廠一般的溫濕度條件為：=22±2°，=45±5%。用合理儲(chǔ)存方

• 祝賀廣州市中國(guó)香港科大霍英東研究院選用宏展高低溫濕熱試驗(yàn)箱！

  祝賀廣州市中國(guó)香港科大霍英東研究院選用宏展高低溫濕熱試驗(yàn)箱！ 研究院概況 中國(guó)香港科大霍英東研究院（以下簡(jiǎn)稱“研究院”）由霍英東基金會(huì)捐建，于2007年1月正式落戶廣州南沙，是南沙一家外資科研機(jī)構(gòu)。? 研究院依托中國(guó)香港科技大學(xué)良好**的科研及教育優(yōu)勢(shì)，與珠三角高校、機(jī)構(gòu)和企業(yè)的發(fā)展需求相結(jié)合，重點(diǎn)布局物聯(lián)網(wǎng)、**制造與自動(dòng)化、**材料、綠色建筑與環(huán)境等領(lǐng)域的研發(fā)工作。致力于創(chuàng)新科技研發(fā)與成果轉(zhuǎn)化

• 高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試前的準(zhǔn)備工作

  高低溫試驗(yàn)箱可以用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變?cè)囼?yàn)，除此之外還可以對(duì)電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。那么高低溫試驗(yàn)箱在進(jìn)行測(cè)試前都有準(zhǔn)備工作呢?高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試前的準(zhǔn)備工作：1、確定高低溫試驗(yàn)所依據(jù)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，若沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)可依據(jù)，可以依據(jù)相關(guān)的產(chǎn)品規(guī)范要求。2、確定高低溫試驗(yàn)的程序以及測(cè)試的條件，溫度點(diǎn)，試驗(yàn)時(shí)間等。3、確定高低溫試驗(yàn)

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