cmoswafer不良晶片回收

時(shí)間：2023-04-27作者：龐博電子有限公司（中國香港）瀏覽：45

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不良晶片




不良晶片

不允許用萬用表R×R×10擋測量微安表、檢流計(jì)、標(biāo)準(zhǔn)電池等的內(nèi)阻。g。測量間歇時(shí)，應(yīng)防止兩根表棒短路，浪費(fèi)電池能量。測量電流、電壓時(shí)應(yīng)注意以下七點(diǎn)。a。測量電流時(shí)，萬用表串人電路，紅色表棒接被測對象正極，黑色表棒接被測對象負(fù)極。b。測量電壓時(shí)，萬用表并人電路，紅色表棒接被測對象高電位，黑色表棒接至低電位。c。測試中需轉(zhuǎn)換量程時(shí)，應(yīng)將表棒離開測試點(diǎn)，以免轉(zhuǎn)換開關(guān)因接觸點(diǎn)打火而被燒毀。d。若不知被測對象的大小，應(yīng)先將萬用表放置在測量量程，視指針偏轉(zhuǎn)情況再逐步減小測量量程。
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