如何判斷ic芯片的好壞
一、不在路檢測(cè)
這種方法是在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的,一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值,并和完好的ic進(jìn)行比較。
二、在路檢測(cè)
這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)IC各引腳在路(IC在電路中)直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩,是檢測(cè)IC較常用和實(shí)用的方法。
直流工作電壓測(cè)量
這是一種在通電情況下,用萬(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測(cè)量;檢測(cè)IC各引腳對(duì)地直流電壓值,并與正常值相比較,進(jìn)而壓縮故障范圍, 出損壞的元件。測(cè)量時(shí)要注意以下8點(diǎn):
(1)萬(wàn)用表要有足夠大的內(nèi)阻, 少要大于被測(cè)電路電阻的10倍以上,以免造成較大的測(cè)量誤差。
(2)通常把各電位器旋到中間位置,如果是電視機(jī),信號(hào)源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號(hào)發(fā)生器。
詞條
詞條說(shuō)明
【回收skhynix內(nèi)存】?jī)?nèi)存條簡(jiǎn)介
內(nèi)存條簡(jiǎn)介存儲(chǔ)器是數(shù)字系統(tǒng)中用以存儲(chǔ)大量信息的設(shè)備或部件,是計(jì)算機(jī)和數(shù)字設(shè)備中的重要組成部分。存儲(chǔ)器可分為隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)和只讀存儲(chǔ)器(ROM)兩大類。隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)既可向*單元存入信息又可從*單元讀出信息。任何RAM中存儲(chǔ)的信息在斷電后均會(huì)丟失,所以RAM是易失性存儲(chǔ)器。ROM為只讀存儲(chǔ)器,除了固定存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、表格、固化程序外,在組合邏輯電路中也有著廣泛用途。
“內(nèi)存顆?!笔侵袊?guó)港臺(tái)地區(qū)對(duì)內(nèi)存芯片的一種稱呼(僅對(duì)內(nèi)存),其他的芯片則稱為“晶片”。晶片經(jīng)過(guò)封裝之后就成為一個(gè)閃存顆粒。內(nèi)存顆粒內(nèi)容容量計(jì)算一個(gè)內(nèi)存條后就非常容易計(jì)算出它的容量。例如一條三星ddr內(nèi)存,使用16片samsungk4h280838b-tcb0顆粒封裝。顆粒編號(hào)第4、5位“28”代表該顆粒是128mbits,第6、7位“08”代表該顆粒是8位數(shù)據(jù)帶寬這樣我們可以計(jì)算出該內(nèi)存條的容量是
什么是字庫(kù)?1、早期字庫(kù)是存放鉛字字模或新鑄鉛字的庫(kù)房。2、后期字庫(kù)是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中儲(chǔ)存標(biāo)準(zhǔn)字形的**軟件。??字庫(kù),就是我們使用計(jì)算機(jī)是顯示漢字的圖像源。計(jì)算機(jī)調(diào)用字庫(kù)顯示漢字,不是直接調(diào)用相同的圖像,而是調(diào)用這個(gè)漢字的內(nèi)碼,程序通過(guò)這個(gè)內(nèi)碼,再到相應(yīng)的圖像源(字庫(kù))當(dāng)中尋找相應(yīng)的圖像信息,并畫(huà)到屏幕上或者打印到紙上。所以,只要是文本文件,在以二進(jìn)制模式打開(kāi)的時(shí)候,顯示的都是這
按功能結(jié)構(gòu)分類集成電路按其功能、結(jié)構(gòu)的不同,可以分為模擬集成電路和數(shù)字集成電路兩大類。按制作工藝分類集成電路按制作工藝可分為半導(dǎo)體集成電路和膜集成電路。膜集成電路又分類厚膜集成電路和薄膜集成電路。按導(dǎo)電類型不同分類集成電路按導(dǎo)電類型可分為雙較型集成電路和單較型集成電路。雙較型集成電路的制作工藝復(fù)雜,功耗較大,代表集成電路有TTL、ECL、HTL、LST-TL、STTL等類型。單較型集成電路的制作工
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