XPN-300偏光顯微鏡熔點儀

時間：2015-09-09作者：北京中儀友信科技有限公司瀏覽：254

XPN-300偏光顯微鏡熔點儀一、用途

? ?XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校較常用的專業(yè)實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等領(lǐng)域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設(shè)定溫度值。二、系統(tǒng)簡介 ? 偏光顯微鏡熔點儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術(shù)、**的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、**的計算機圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。


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  詞條說明

• OPA－100金屬原位分析儀

  產(chǎn)品描述： OPA－100金屬原位分析儀 是在國家科技部支持下開發(fā)成功的，是世界上首臺可進行金屬材料*面積范圍內(nèi)的成分及狀態(tài)定量分布的快速分析儀器，具備元素偏析度分析、夾雜物的定量分析與分布、金屬表面疏松度分析及成分分析四大基本功能。與傳統(tǒng)技術(shù)比較，具有制樣簡單、定量準確、分析速度快的顯著特點。1、連續(xù)激發(fā)同步掃描定位技術(shù) 2、單次火花放電高速采集技術(shù) 3、火花光譜單次放電數(shù)字解析技術(shù) 4、元

• Belec Vario Lab固定式光譜儀

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• SMART-97智能便攜式渦流探傷儀

  儀器特性：二個獨立檢測通道 二個自動混頻單元 頻率范圍：64 Hz－5 MHz 快速模擬 / 數(shù)字式電子平衡 增益：0 －90 dB，每檔 0.5 dB 數(shù)字濾波 自動/手動幅度和相位測量 *創(chuàng)的非等幅相位 / 幅度報警 具多頻檢測組態(tài)分析功能 八個硬件報警輸出接口 存儲獨立的檢測程序 阻抗平面圖形及兩個內(nèi)置帶式曲線顯示 在線操作提示、熱鍵幫助 可與同型儀器或微機進行參數(shù)、圖形傳輸。 直角坐標系

• 便攜式紅外測溫儀DT-811

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