Tektronix370A -泰克370A -TEK370A -日本購入

時間：2022-05-18

Tektronix370A -泰克370A -TEK370A -日本購入

名稱：泰克Tektronix 370B 晶體管測試儀

主要參數(shù):

半導體器件高精度測量

-上限達2000V或電流到10A的源（370A/B）

-上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A/B）

-上限到400A（371A）

-1nA的測量分辨率

-上限到3000W（371A）

-上限到2mV的測量分辨率（370A/B）

-波形對比

-包絡顯示

-波形平均

-點光標（370A）

-Kelvin傳感測量

-全程控

-MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用

交互式程

-所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的**板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。

測試夾具

-測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。

程控特性曲線圖示儀

-*的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。

-在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作。

應用

-手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量

-來料檢查

-生產測試

-過程監(jiān)視及質量控制

-數(shù)據(jù)報告的生成

-元件配對

-失效分析

-工程測試

備注：
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詞條說明
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