SCGB-B-6.3/600過電壓保護器的安裝技術

時間：2022-12-14

pnp半導體管文字符號:v雙向晶體閘流管文字符號：vs扼流線圈文字符號：ra，lc(舊)隔離開關具有中間斷開位置的雙向隔離開關負荷開關（負荷隔離開關）隔離開關文字符號：qb，qs(舊)隔離開關文字符號：qb，qs(舊)負荷開關文字符號：qb，qs(舊)。
被吸合時延時閉合的常閉觸點被釋放時延時閉合的常閉觸點被吸合時延時閉合，釋放時延時斷開的常開觸點時間繼電器文字符號：kt時間繼電器文字符號：kt時間繼電器文字符號：kt有常開觸點但無自動復位旋轉開關有常開觸點自復位蘑菇式按鈕開關有常開觸點鑰匙操作的按鈕開關。
轉換開關文字符號：sa按鈕文字符號：sb按鈕文字符號：sbct是電流互感器(currenttransformer)的縮寫簡稱，作為名詞使用是一個名詞，ta是電流互感器文字符號，用于二次圖代指電流互感器，是與舊標lh相對應。電流互感器的二次文字號**用過ct，只用過lh。
如上圖，假設將筒燈內的led燈珠面板盡可能下移，靠近外置的透明遮罩，然后在led燈珠透鏡上采取一定的措施，可以將筒燈光線盡可能的發(fā)散開，這樣也可以利用嵌入式燈具盡可能滿足地面低照度要求。這應該也是新民用建筑電氣設計標準gb51348-2019這條規(guī)定的一個出發(fā)點。增加燈具布置密度或者增加燈具光線的擴散角度。如果說嵌入式燈具就一定不利于做成廣照型的話也有片面之嫌均勻度要達標無非是兩點溫度變送器壓力變送器無紙記錄儀流量積算儀溫控器顯示儀表隔離器安全柵電力儀表手動操作器標準熱電偶標準鉑電阻熱電偶熱電阻超聲波液位計過程校驗儀但是疏散照明的照明均勻度要做到合格可能確實有一定難度。
規(guī)范只要對地面照度值，均勻度提出要求，無論實際使用何種燈具只要其能指標合格都應該是被允許的。當然，民用建筑電氣設計標準gb51348-201913.6.5條中對于嵌入式燈具易收集氣的理由還是很有道理的，其實可以把這個理由從條文解釋中提出來放在正文中單成為一個條款。但排除使用嵌入式疏散照明燈具的做法也值得商榷。其實從規(guī)范編制原則上說盡可能充分利用疏散照明燈具的光通量電力儀表認為：新民用建筑電氣設計標準gb51348-201913.6.5條規(guī)定的出發(fā)點是考慮到火災時人員疏散的安全性比如說可以要求“疏散照明燈具外型應不會聚集煙氣”即可。
規(guī)范中提出了均溫塊的概念，以改善爐溫性能。但在實際工作中，由于校準人員的重視程度不足，均溫塊的使用沒有得到很好的推廣。熱電偶校準通常是將二等標準鉑銠10-鉑熱電偶和被校熱電偶捆扎在一起本文通過試驗數(shù)據(jù)的對比分析，證明均溫塊對熱電偶校準質量的重要影響，并對其在實際工作中的應用進行了探討。放入管式爐合格溫場中用比較法完成的。管式爐溫場一致性是校準結果準確性的重要因素。對管式爐軸向溫場和徑向溫場都有著明確的要求。為了好地熱電偶校準時的溫場一致性在jjf1637-2017《廉金屬熱電偶校準規(guī)范》和jjf1262-2010《鎧裝熱電偶校準規(guī)范》中。
高使用溫度1200℃。根據(jù)被校準對象不同，均溫塊的結構有所不同：單孔型均溫塊在中心開有一個單孔，使用時將普通廉金屬熱電偶捆扎成束后放入孔內，如圖1a所示，多孔型均溫塊開有多個測試孔，使用時將鎧裝熱電偶直接插入孔中，捆扎，控溫孔可以和測試孔開在一面，也可以開在均溫塊的背面，所有開孔均為盲孔，如圖1b所示。提高管式爐溫場均勻性主要用來在廉金屬熱電偶(特別是鎧裝廉金屬熱電偶)校準時起均溫作用熱電偶管式爐均溫塊是采用高溫合金材料(一般為鎳鉻合金)制作而成的均溫裝置本試驗中將爐口處的擋板和均溫塊做成一體結構，如圖1c所示，可以方便均溫塊在爐內的定位，也便于溫場測試時進行轉動。
一支插入均溫塊周邊任一孔底部作為固定熱電偶，另一支插入中心孔中作為移動熱電偶。由孔底開始向外，測試30mm距離內溫度一致性。徑向溫度場的測試采用微差法，先把移動熱電偶和固定熱電偶的負極在參考端短接，之后將移動熱電偶正極接測量儀器“+”。選取一臺管式爐固定熱電偶正極接測量儀器“-”，然后將2支測試偶同時插入均溫塊中心孔底部，測得微差值。在1000℃下對其帶均溫塊時的溫場一致性進行測試。用2支二等標準鉑銠10-鉑熱電偶作為測試偶。軸向溫場測試時測試方法如下：將均溫塊置于管式爐中心位置作為徑向溫場測試時“0”點位置的讀數(shù)，再測試徑向溫場上，下，左，右位置和中心孔在孔底處的溫度一致性。
由于工作溫度較高，需要用貴金屬熱電偶進行控溫和溫場測試。為氣密性，有時會采用不可拆卸的陶瓷封裝結構，無法將偶絲抽出來進行校準。通過x光檢測可以發(fā)現(xiàn)，這類熱電偶的測量端和陶瓷管部之間往往具有一定的空隙。在與標準熱電偶捆扎在一起進行校準時，由于無法獲知測量端在瓷管內的具置，導致校準結果誤差較大。測試結果如表1所示。故測試結果為由孔底向外各點的數(shù)據(jù)。在真空熱處理設備中由于均溫塊測試孔為盲孔帶均溫塊時軸向與徑向溫場測試示意圖分別如圖2軸向和圖3所示對于這種情況，可以參考鎧裝熱電偶的校準方法，將熱電偶插入均溫塊中進行校準。由于均溫塊本身具有較好的孔間溫度一致性，可以獲得準確的校準。但由于貴金屬熱電偶校準溫度較高，需要綜合考慮均溫塊的使用溫度，采用合適的高溫合金塊。
捆扎裝爐后會明顯改變管式爐溫場，造成校準時受熱不均勻，帶來較大測量誤差，按常規(guī)方法無法準確校準。通過設計制作符合其結構特點的均溫塊，實現(xiàn)t3熱電偶靜態(tài)溫度特性校準。該均溫塊的開孔尺寸略大于熱電偶直徑，孔深也隨之增加，熱電偶插入均溫塊的深度與孔徑之比滿足要求。由于均溫塊內部的傳熱方式主要以導熱為主，高溫時金屬內部溫度分布均勻。該型熱電偶結構特殊受溫度波動影響小。并且這類熱電偶一般直徑比較粗因此校準時對溫度場有著較高要求故能夠提供一個穩(wěn)定且均勻的溫場。試驗結果表明：將均溫塊應用于t3熱電偶的校準中是有效且的。為了好的校準結果，還可以將標準熱電偶套上與被校偶相似的外加金屬保護管，使二者輻射性能相接近。
對于-200~0℃的溫度范圍：rt=r0[1+at+bt2+c(t-100℃)t對于0~850℃的溫度范圍：rt=r0(1+at+bt對于常用的工業(yè)鉑熱電阻，在以上兩式中的常數(shù)值分別為：a=3.90802×10-3℃-b=-5.802×10-7℃-c=-4.27350×10-12℃。
對于滿足以上關系式中鉑熱電阻的溫度系數(shù)為：α=0.003850Ω·Ω-1·℃-1(α定義為：α=(r100-r/100×r0Ω·Ω-1·℃-在上述關系式中，r100為100℃時的電阻值，r0為0℃時的電阻值。
鉑熱電阻分度表可根據(jù)上述鉑熱電阻的電阻-溫度關系制訂，但不包括其它的電阻分度表。本標準采用1968年**實用溫標(ipts-的溫度值。注：上述等式中所定義的電阻值不包含感溫元件與終端之間引線的電阻值，除非廠商特殊說明。3.1條款中的電阻值見。
如果試驗是通過改變鉑熱電阻周圍介質的溫度而進行的，則試驗介質到達終溫度值的50%所需的時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1/10。如果試驗是通過鉑熱電阻投入溫度不同的介質而進行的，則被試鉑熱電阻到達終置入深度所需的時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1/10。
記錄儀器或儀表(詳見iec2直接作用的記錄電子測量儀器及其附件)的響應時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1所記錄的熱響應時間值應取同一試驗至少三次測試結果的平均值，每次測試結果對于平均值的偏離應在±10%以內。
被試鉑熱電阻的置入部分應位于試驗流道的中部，其縱軸在垂直于介質流動方向的平面上，流道的寬度應不小于被試鉑熱電阻直徑的10倍。熱響應時間小于1秒時，測試儀器應被設計為在鉑熱電阻前后方向不存在流動水的自由液面以避免加氣處理。在試驗流道的可用橫截面內，流速ν應保持0.4±0.05m初始溫度在5℃~30℃的范圍內。溫度階躍值應不大于10℃。在試驗過程中，水的溫度變化應不大于溫度階躍值的±1%。試驗時。
小置入深度應等于鉑熱電阻的敏感長度與直徑的5倍之和。若被試鉑熱電阻的設計置入深度小于上述數(shù)值，則按設計置入深度進行試驗，并在試驗報告中說明。試驗應在攪拌水槽中進行，水的溫度保持為0℃。詳見附被試鉑熱電阻處于設計置入深度，其激勵電流應耗散功率不大于0.1mw，在這樣的條件下測量被試鉑熱電阻的穩(wěn)態(tài)電阻值。
在鉑熱電阻的額定電阻值為100Ω時，后一次測量穩(wěn)態(tài)電阻值應采用的激勵電流值為10ma。電阻值為10Ω時，對應的電流為30ma。對應電阻值所增加的溫度應不**過0.3℃。注：自熱測試不適合小型尺寸的鉑熱電阻。鉑熱電阻用于氣體中時，如需要，可要求廠商提供自熱影響的說明。
各步驟應重復10次。0℃時被試鉑熱電阻的電阻值變化量換算成溫度值時：a級不得**過0.15℃，b級不得**過0.30℃。如果被試鉑熱電阻的下限溫度氮沸點，則以氮沸點作為試驗溫度。并按4.2.1進行絕緣電阻試驗。將被試鉑熱電阻送入已達到其上限溫度的試驗裝置中。然后再移出到室溫下。將被試鉑熱電阻送入已達到其上下限溫度的試驗裝置中。然后再移出到室溫下。在每個極限內鉑熱電阻應插入至少規(guī)定的置入深度內并保持足夠的時間以達到平衡。
對用于嚴酷環(huán)境的鉑熱電阻，應進行附加的型式檢驗。具體事宜應由廠商與用戶商定。實例如下：試驗裝置為鋪放在地面上的一塊厚度為6mm的鋼板。試驗時，被試鉑熱電阻的縱軸與鋼板表面基本上保持平行，兩者的距離約250mm。然后讓被試鉑熱電阻從這個高度自由跌落至鋼板上，這樣的過程應重復10次。
并按4.2.1進行絕緣電阻試驗及電力連續(xù)性的維護。試驗裝置應與振動器連接牢固，被試鉑熱電阻的振動頻率范圍為10hz~500hz，加速度為20m/s2~30m/s2。頻率為1倍頻/分，整個過程持續(xù)150h。每半個周期內應以縱向及橫向對鉑熱電阻進行振動試驗。試驗時應記錄共振的頻率及特性，同時應持續(xù)監(jiān)測電力連續(xù)性能。并按4.2.1進行絕緣電阻試驗。試驗結束鉑熱電阻在經(jīng)受振動試驗前后。有無斷路或短路立即檢查被試鉑熱電阻有無機械損壞其0℃電阻值的變化量換算成溫度值不應**過0.05℃。
其激勵電流應耗散功率不大于0.1mw。被試鉑熱電阻的激勵功率保持不變，壓力試驗管的壓力逐漸增加到3.5mpa，同時監(jiān)測被試鉑熱電阻的電阻值變化。試驗前后，其0℃電阻值的變化量換算成溫度值不應**過0.05℃。試驗結束，壓力回復至常壓。此試驗是在沒有任何防護的情況下立即按4.2.1進行絕緣電阻測量。將鉑熱電阻放入密閉的容器中。被試鉑熱電阻置于充水的不銹鋼壓力試管中。兩者的間隙很小。詳見圖b2。被試鉑熱電阻的置入深度應至少等于設計置入深度。
鉑熱電阻在經(jīng)受壓力試驗的過程中，應不發(fā)生斷路或短路，無機械損壞。凡是能組成檢測，控制回路的單元分別按臺數(shù)統(tǒng)計。調節(jié)單元：控制室的各種調節(jié)器，現(xiàn)場各種基地式調節(jié)器。如果調節(jié)器與二次表組成一體，則統(tǒng)計為一臺儀表。
測量變送單元：差壓變送器，壓力變送器，溫度變送器，溫包變送器，速度變送器，攝像變送器，毫伏變送器，液位變送器，鋼帶液位計，遠傳轉子流量計，橢圓流量計，渦輪流量計，旋渦流量計，電磁流量計，超聲波流量計，雷達液位計，質量流量計，楔形流量計等變送單元。
計算單元：加減器，乘除器，開方器，積算器，繼動器，比例設定器，信號分配器等。輔助單元：油浸開關，電(氣)源裝置，閃光警報器，電氣隔離器，阻尼器，大功率加熱器，手操器，火焰監(jiān)測器，安全柵，警報設定器，高低值選擇器，氣源大功率放大器等。
特殊單元：數(shù)控器，稱重儀，軸位移軸振動儀表，罐表，工業(yè)電視，各種在線分析儀表，可燃/有毒氣體警報器，射線料位計，密度計等。其它單元：各種轉換器(氣/電，氣/氣，電/氣，電壓/電流)，閥門定位器，定時器，電磁閥，壓力開關，溫度開關，音叉開關，流量開關，液位開關，速度開關，電子行程開關等。
熱電阻，熱電偶，探頭，氧化鋯頭，放射源等。?繼電器，過濾器減壓閥，按鈕開關，各種顯示燈等，凡屬科研開發(fā)，未經(jīng)鑒定的儀表自動化設備，暫不作臺件統(tǒng)計。凡用于生產(chǎn)過程檢測，控制，操作，管理，聯(lián)鎖功能的集散控制系統(tǒng)及聯(lián)鎖控制系統(tǒng)(如dcs，esd，itcc及plc)硬件設備臺件統(tǒng)計原則，按一塊卡件算一臺儀表統(tǒng)計。(卡件通道數(shù)無論是單，8，16。阿牛巴如孔板一次元件儀表計算為一臺還是64均按一臺統(tǒng)計)。
操作站及工程師站，crt，打印機等按一臺儀表統(tǒng)計?？刂普緝x表臺件統(tǒng)計：各種類型輸入/輸出卡，cpu卡，通訊卡，接口卡，hub，交換器等均按一臺計算?！魷y量回路：由檢測元件和測量儀表及附件等組成的監(jiān)測系統(tǒng)，按一套測量回路統(tǒng)計。
如果測量回路，用來分析某種介質組份的含量或分析某種產(chǎn)品的質量，則按一套質量測量回路統(tǒng)計。如果測量回路，用來監(jiān)測特殊參數(shù)或采用特殊儀表(如：大型機組運行狀態(tài)在監(jiān)測儀，在線電子稱，紅外測量計等)則按一套特殊測量回路統(tǒng)計。
通過共用繼電器或警報器發(fā)出警報信號，則按一套警報測量回路統(tǒng)計。◆控制回路：由檢測元件，測量儀表，功能相當于調節(jié)器，執(zhí)行機構及附件等組成的控制系統(tǒng)，按一套控制回路統(tǒng)計。如果回路中，有質量分析儀表，則按一套質量控制回路統(tǒng)計。用來特殊參數(shù)或采用特殊控制方案或采用特殊控制儀表組成的控制回路，則按一套特殊控制回路統(tǒng)計。如三沖量調節(jié)，用射線監(jiān)測控制液面等。復雜控制回路。由多個檢測元件如果測量回路中如果有多個測量單元和調節(jié)器的，按調節(jié)器的個數(shù)來計算控制回路數(shù)。即有些調節(jié)回路有多個執(zhí)行機構，但調節(jié)器只有一個的，則按一套控制回路統(tǒng)計。
儀表設備密封點數(shù)的統(tǒng)計：凡有一個密封接合處，就算一個密封點，如一個墊片，一個絲扣連接處，一個填料函等。注：凡用電焊氣焊等焊接處，不做密封點統(tǒng)計，但是，只要有漏處，在計算泄漏率時，都算漏點?！魞x表完好率=實際完好臺數(shù)(總臺數(shù)-不完好臺數(shù))/總臺數(shù)×。
◆儀表使用率=投入使用回路數(shù)/(總回路數(shù)―工藝原因停用回路數(shù))×?！魞x表控制率=投入控制回路數(shù)/(總控制回路數(shù)-工藝原因?？鼗芈窋?shù))×。裝置正常生產(chǎn)所安裝的儀表均應當投用，只有下面三種情況才統(tǒng)計為工藝生產(chǎn)停用。
在正常生產(chǎn)時，由于裝置部分設備不使用而停用其所屬儀表，但儀表處于完好狀態(tài)時，屬生產(chǎn)不使用，不控制。如機組上的儀表，多臺設備，生產(chǎn)停用設備上的儀表等。但是生產(chǎn)停用儀表，也必須達到完好條件，當生產(chǎn)使用時，應立即能夠啟用。
選擇系統(tǒng)：在控制系統(tǒng)中，通過轉換機構，控制工藝生產(chǎn)參數(shù)，因生產(chǎn)需要可以轉控制的回路，這時待用的回路，可計算為生產(chǎn)停用。如加熱爐出口溫度控制，即可與燃料油流量串級，又可與燃料氣流量串級控制，二者必居其這時沒有選中的回路，且儀表應是完好的，可算生產(chǎn)?？亍Ｈ绻c其兩個回路都串不上，則儀表?？厝齻€回路。

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