X熒光光譜儀在區(qū)域地質(zhì)勘察中應(yīng)用

時間：2022-11-01作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：132

利用 X射線熒光光譜儀器對地質(zhì)勘察中采集的樣品粉末進行多元素測定非常，能快準(zhǔn)確、高精度地得到檢測結(jié)果。對于不同區(qū)域的地質(zhì)勘察樣品，能利用專業(yè)計算機軟件進行數(shù)據(jù)處理，提高了分析準(zhǔn)確性和效率。通常區(qū)域化測試中需要測定39種不同的元素，而X射線熒光光譜儀就能對其中的26種進行準(zhǔn)確測定。目前X射線熒光光譜儀進行測定工作流程比較完整，在結(jié)合其他化學(xué)探樣品分析方法后，多元素測定的效果很好，具有良好的經(jīng)濟效益和社會**。

我司生產(chǎn)的XTU-4C/XD-1000兩款型號的X熒光光譜儀，搭配四準(zhǔn)可切換準(zhǔn)直器，較小可選用0.03*0.2mm的準(zhǔn)直器，搭配大面積窗接收器，5-10s的測試時間便可以出鍍層厚度，且同時分析出成分占比，且XD-1000型號的rohs測厚儀，可進行自動編程，可以對焊帶上多點進行編程測試，檢測鍍層的均勻性。對焊帶的生產(chǎn)管控起著至關(guān)重要的作用，現(xiàn)階段廣泛應(yīng)用于焊帶的品質(zhì)檢測中。

X熒光光譜儀特性：

可靠的高性能

測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質(zhì)量的同時減少浪費，消除死時間;

較高的性價比

制造工藝升級，較具性價比，大大節(jié)省使用成本;

*檢測技術(shù)

高集成垂直光路系統(tǒng)，采用**的解譜技術(shù)和影像識別算法，實現(xiàn)精準(zhǔn)、快速、智能、自動，滿足企業(yè)檢測需求;

使用壽命較長

模塊化設(shè)計，聚焦節(jié)能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命;

**EFP算法

**的EFP算法不但對多層測試精準(zhǔn)、校準(zhǔn)方便，而且解決了多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層的檢測難題;

四焦-體裝置

搭載高集成四焦技術(shù)，可測量較大90mm深度的凹槽高低落差異形件;

上照式設(shè)計

上、下位機管理分工，可實現(xiàn)對**大型工件的快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效測量;

適用性強

精準(zhǔn)測量各類金屬鍍層厚度的同時可對電鍍液進行分析;

以上就是一六儀器整理分享的關(guān)于X熒光光譜儀在區(qū)域地質(zhì)勘察中應(yīng)用。想了解儀器更多領(lǐng)域應(yīng)用歡迎持續(xù)關(guān)注。


江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

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