膜厚儀檢測(cè)鍍層厚度的原理

時(shí)間：2022-06-17作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：132

膜厚儀檢測(cè)鍍層厚度的原理

磁性測(cè)厚法是利用樣品與標(biāo)準(zhǔn)磁鐵之間的吸引力變化轉(zhuǎn)化為涂層厚度。該方法僅適用于對(duì)磁性能敏感的基體上的非磁性涂層，如鋼基體上的銅、鋅、錫等涂層。鋼件上的鎳涂層不能很好地測(cè)量結(jié)果。
磁性測(cè)厚法的優(yōu)點(diǎn)是為鋼基體上的非磁性涂層提供了一種快速的測(cè)量方法，其精度可達(dá)85%-90%。測(cè)量樣品的粗糙度對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響。如果被測(cè)部分的基體非常薄,例如,如果樣品的厚度小于0.25毫米,會(huì)有一個(gè)很大的測(cè)量誤差,然后可以添加一個(gè)相同厚度的無(wú)涂層材料的基底材料減少誤差。
磁性法的缺點(diǎn)是受到磁性能要求的限制，因此適應(yīng)該方法的基材和涂層是有限的。
所謂渦流測(cè)厚是指在一定深度內(nèi)，通過(guò)探針將基體作為導(dǎo)電材料的瞬時(shí)沖擊電流回路。渦流電路的強(qiáng)度受涂層厚度和基材的導(dǎo)電性能的影響。當(dāng)涂層變薄時(shí)，較高的渦流電流通過(guò)基體，當(dāng)涂層變厚時(shí)，通過(guò)基體的電流強(qiáng)度會(huì)減弱，因此可以計(jì)算涂層厚度。
渦流法可用于金屬材料基體上金屬或非金屬涂層的厚度測(cè)量，也可用于非金屬材料上金屬涂層的厚度測(cè)量，這是一種非破壞性厚度測(cè)量方法。因此，它也是一種廣泛使用的厚度測(cè)量方法。特別是在涂層的厚度測(cè)量中，涂層較薄時(shí)誤差較大。
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