手持合金分析儀的原理

時(shí)間：2022-06-17作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：219

手持合金分析儀的原理

手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可以用來(lái)確認(rèn)材料中的特定元素，同時(shí)對(duì)其進(jìn)行量化。具體元素可以根據(jù)X射線的**波長(zhǎng)(λ)和能量(E)來(lái)確定，這些元素的數(shù)量可以通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定。這樣，XRF度普術(shù)就可以測(cè)量物質(zhì)的元素組成。
每個(gè)原子都有自己的固定數(shù)量的電子（負(fù)電粒子）在**周圍的軌道上運(yùn)行。其電子的數(shù)量相當(dāng)于核中的質(zhì)子（正電粒子）的數(shù)量。我們可以從元素周期表中的原子數(shù)中知道質(zhì)子的數(shù)量。每個(gè)原子的數(shù)量對(duì)應(yīng)于固定元素的名稱，如鐵，元素的名稱是Fe，原子的數(shù)量是26。能量色散X熒光和波長(zhǎng)色散X熒光光譜分析技術(shù)專門研究和應(yīng)用了三個(gè)較內(nèi)層的電子軌道，即K、L其中K軌道接近核，每個(gè)電子軌道對(duì)應(yīng)一個(gè)特定的能量層。
在XRF分析中，手持式合金分析儀從從X射線**管射出的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量來(lái)擺脫內(nèi)部的電子沖擊，即K或L。此時(shí)，原子變成不穩(wěn)定的離子。由于電子本能尋求穩(wěn)定性，外部L或M電子將進(jìn)入以彌補(bǔ)內(nèi)部空間。當(dāng)這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層時(shí)，它們釋放能量，我們稱之為二次x射線光子。
整個(gè)過(guò)程被稱為熒光輻射。每個(gè)元素的二次射線都有自己的特點(diǎn)。X射線光子的熒光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差異決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4千電子伏。X射線的數(shù)量或密度在特定元素在一定時(shí)間內(nèi)輻射，可用于測(cè)量該元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)間光子密度的分布。



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