EKSMA Optics分光鏡玻璃，諧波分離器

時(shí)間：2022-02-28作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：319

分光鏡玻璃/平板分光

-在激光泵浦波長(zhǎng)下具有高透射率

-HR @ 1064nm + HT @ 808nm或HR @ 1028-1080nm + HT @ 965-982nm

-透射波長(zhǎng)，T> 98％

-背面抗反射涂層，R <0.1％

-標(biāo)準(zhǔn)的激光損傷閾值> 10J /厘米2，10納秒，1064納米，10赫茲




高透射ND：YAG激光線諧波分離器，分光鏡，平板分光鏡

-HR @ 1064nm + HT @ 532nm或HR @ 532nm + HT @ 1064nm

-透射波長(zhǎng)，T> 99％

-背面抗反射涂層，R <0.1％

-標(biāo)準(zhǔn)的激光損傷閾值> 10J /厘米2，10納秒脈沖，1064納米，10赫茲







精密CNC拋光光學(xué)鏡片

EKSMA Optics的CNC鏡片生產(chǎn)設(shè)備使他們能夠以較優(yōu)的價(jià)格批量生產(chǎn)單球面/非球面鏡片。從設(shè)計(jì)定制鏡片到原型設(shè)計(jì)和批量生產(chǎn)，可以滿足所有的要求。

可以設(shè)計(jì)和拋光傳統(tǒng)光學(xué)材料（例如N-BK7玻璃，熔融石英或其他種類繁多的玻璃）的球形或非球形表面，以達(dá)到較高規(guī)格要求。可以生產(chǎn)直徑從1/4到4英寸的高精度表面。

所生產(chǎn)鏡片的表面精度和拋光質(zhì)量在我們的質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室中使用新型和**的納米級(jí)輪廓和粗糙度測(cè)量系統(tǒng)以及干涉儀進(jìn)行了質(zhì)檢。

鏡頭可以配備在內(nèi)部EKSMA Optics鍍膜設(shè)施中設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的定制光學(xué)鍍膜。對(duì)于客戶*的激光波長(zhǎng)，R <0.05％的減反射膜可以使用**的離子束濺射技術(shù)涂在成品鏡片上。




飛秒激光脈沖寬帶可變衰減器



我們已經(jīng)擴(kuò)展了流行的線性偏振激光束可變衰減器系列。為高能飛秒激光脈沖設(shè)計(jì)了新型寬帶可變衰減器。有手動(dòng)或自動(dòng)兩種版本。




990-0070HBBi70衰減器將激光束分成強(qiáng)度比可調(diào)的兩個(gè)平行束。它們具有在750-850 nm或980-1080 nm寬帶波長(zhǎng)范圍內(nèi)連續(xù)分束的功能





深圳維爾克斯光電有限公司專注于激光防護(hù)鏡,衍射光學(xué)元件,DOE等, 歡迎致電 18926463275

• 詞條

  詞條說明

• 光纖光譜儀應(yīng)用在檢測(cè)薄膜厚度

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動(dòng)特性，若干列光波在空間相遇時(shí)，互相疊加或互相抵消，引起光強(qiáng)的重新分布，在某些區(qū)域始終加強(qiáng)，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測(cè)薄膜厚度上圖為使用海洋光學(xué)光纖光譜儀，利用干涉效應(yīng)來(lái)測(cè)量薄膜厚度的原理圖。當(dāng)一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進(jìn)入薄膜發(fā)生折射，折射光經(jīng)膜層下表面反射后，再經(jīng)

• LASEROPTIK鍍膜技術(shù)對(duì)比

  LASEROPTIK是在20世紀(jì)80年代由Johannes Ebert博士創(chuàng)立，由于Ebert博士在漢諾威大學(xué)**光學(xué)研究所積累了薄膜制造和表征方面的經(jīng)驗(yàn)，為精進(jìn)鍍膜技術(shù)奠定了基礎(chǔ)。經(jīng)過幾十年的發(fā)展，LASEROPTIK使用許多不同的涂層鍍膜技術(shù)來(lái)找到滿足各種需求的解決方案，如今，有六種不同的鍍膜涂層（ALD/EBE/IAD/IP/MS/IBS），每種方法都有自己的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。如下是六種涂層鍍膜技

• Specim FX17高光譜相機(jī)在制藥和醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用

  高光譜成像作為一種新型的光譜測(cè)量方法，可同時(shí)獲取被測(cè)試樣的光譜信息及空間信息，且測(cè)量數(shù)據(jù)包含的信息量龐大,能較加準(zhǔn)確地反映被測(cè)試樣的整體性質(zhì)。高光譜成像技術(shù)結(jié)合有效的化學(xué)計(jì)量學(xué)方法，可以對(duì)試樣進(jìn)行快速、無(wú)損分析,而且有利于深入研究試樣的物理化學(xué)屬性，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于生物、材料及醫(yī)藥領(lǐng)域的各項(xiàng)研究。制藥和醫(yī)學(xué)中的高光譜成像：藥材的質(zhì)量是用藥安全的前提，而藥品在視覺上往往非常相似，但可能具有不同的化學(xué)成

• Piezoconcept納米平臺(tái)的各個(gè)參數(shù)

  Piezoconcept是壓電納米平臺(tái)，壓電納米臺(tái)和納米平移臺(tái)的良好供應(yīng)商，其應(yīng)用領(lǐng)域包括但不限于**分辨率顯微鏡、光阱和原子力顯微鏡，已經(jīng)廣泛被世界*大學(xué)和研究所從事*研究的**科學(xué)家使用。Piezoconcept采用高精度硅傳感器，提供比**電容傳感器較精確的納米定位反饋。這篇文章將帶領(lǐng)大家認(rèn)識(shí)并了解納米平移臺(tái)的各種參數(shù)。下表是Piezoconcept一軸平移臺(tái)FOC.500的參數(shù)圖，我們可