國產(chǎn)儀器如何使用ROHS測(cè)試儀

時(shí)間：2024-10-16作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：1358

如何使用ROHS測(cè)試儀


XRF定量分析

必須注意的是：x射線熒光光譜分析值提供管制物質(zhì)以元素形式存在與否的信息。必須特別注意例如Cr以及Br，所得的結(jié)果是總Cr和總的Br，而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的時(shí)候，六價(jià)鉻，PBB，PBDE必須使用確認(rèn)測(cè)試程序進(jìn)行確認(rèn)。另一方面，如果沒有Cr,Br的存在，那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。

分析方法必須小心的執(zhí)行校正，考慮：光譜干擾，基體效應(yīng)以及其他影響，其可能影響熒光輻射的強(qiáng)度。
A:Cd,可能受到Br,Pb,Sn以及Sb的干擾
B:Pb:可能受到Br的干擾
C:Hg:可能受到Br，以及Pb的干擾，在樣品含有高濃度的Ca,Fe的時(shí)候。
D:Cr:受到Cl的干擾
E:Br:可能受到Pb和fe的干擾。

另外樣品的厚度對(duì)于熒光的強(qiáng)度有影響，特別是在測(cè)定Cd的時(shí)候。參考樣品必須和樣品的厚度相同，具有可比性。
總的講來，XRF是一種比較分析方法，分析結(jié)果總是基于分析校正


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