【薄膜測(cè)厚儀】薄膜在線測(cè)厚儀的有哪些測(cè)量原理？

時(shí)間：2021-05-30作者：佛山藍(lán)絲萊自動(dòng)化科技有限公司瀏覽：1628

薄膜在線測(cè)厚儀的測(cè)量原理有4種：射線技術(shù)，X射線技術(shù)，近紅外技術(shù)和光學(xué)透過率技術(shù)
2.1 射線技術(shù)
射線技術(shù)是較先應(yīng)用于在線測(cè)厚技術(shù)上的射線技術(shù)，在上世紀(jì)60年代就已經(jīng)廣泛用于**薄薄膜的在線厚度測(cè)量了。它對(duì)于測(cè)量物沒有要求，但傳感器對(duì)溫度和大氣壓的變化、以及薄膜上下波動(dòng)敏感，設(shè)備對(duì)于輻射保護(hù)裝置要求很高，而且信號(hào)源更換費(fèi)用昂貴，Pm147源可用5-6年，Kr85源可用10年，更換費(fèi)用均在6000美元左右。

2.2 X射線技術(shù)
這種技術(shù)較少為塑料薄膜生產(chǎn)線所采用。X光管壽命短，更換費(fèi)用昂貴，一般可用2-3年，更換費(fèi)用在5000美元左右，而且不適用于測(cè)量由多種元素構(gòu)成的聚合物，信號(hào)源放射性強(qiáng)。X射線技術(shù)常用于鋼板等單一元素的測(cè)量。

2.3 近紅外技術(shù)
近紅外技術(shù)在在線測(cè)厚領(lǐng)域的應(yīng)用曾受到條紋干涉現(xiàn)象的影響，但現(xiàn)在近紅外技術(shù)已經(jīng)突破了條紋干涉現(xiàn)象對(duì)于**薄薄膜厚度測(cè)量的限制，完全可以進(jìn)行多層薄膜總厚度的測(cè)量，并且由于紅外技術(shù)自身的特點(diǎn)，還可以在測(cè)量復(fù)合薄膜總厚度的同時(shí)給出每一層材料的厚度。近紅外技術(shù)可用于雙向拉伸薄膜、流延膜和多層共擠薄膜，信 號(hào)源無放射性，設(shè)備維護(hù)難度相對(duì)較低。

2.4光學(xué)涂層技術(shù)
對(duì)于透光的材料，材料一定的情況下，透過率和測(cè)量的厚度成一一對(duì)應(yīng)關(guān)系，所有通過測(cè)量材料的光學(xué)透過率（光密度）來達(dá)到測(cè)量材料厚度的目的，在卷繞式鍍膜行業(yè)，如鍍鋁膜，各種包裝膜，通過在線監(jiān)測(cè)薄膜的透過率來在線監(jiān)測(cè)生產(chǎn)的品質(zhì)，已經(jīng)是一種非常成熟的方案。如深圳市林上科技的LS152真空鍍膜在線測(cè)厚儀就是利用光學(xué)透過率的原理來實(shí)現(xiàn)非接觸式的在線測(cè)厚，該儀器支持RS485通訊接口和MODBUS通訊協(xié)議，可以與鍍膜機(jī)上的PLC進(jìn)行通訊實(shí)現(xiàn)閉環(huán)控制。
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