薄膜在線測厚儀的測量原理有4種:射線技術,X射線技術,近紅外技術和光學透過率技術
2.1 射線技術
射線技術是較先應用于在線測厚技術上的射線技術,在上世紀60年代就已經(jīng)廣泛用于**薄薄膜的在線厚度測量了。它對于測量物沒有要求,但傳感器對溫度和大氣壓的變化、以及薄膜上下波動敏感,設備對于輻射保護裝置要求很高,而且信號源更換費用昂貴,Pm147源可用5-6年,Kr85源可用10年,更換費用均在6000美元左右。
詞條
詞條說明
測量注意事項:⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。現(xiàn)在應用比較廣泛的有激光測厚儀、在線測厚儀、鋰電池測厚儀。X射線測厚儀等等。其中X射線測厚儀爭議比較大,因為射線對人體是有輻射的,但是在工業(yè)上X射線又能給我們提供很大的便利。所以,我們使用x射線測厚儀如何保證安全呢?X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。測量注意事項:⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)
薄膜測厚儀是一種通常安裝在薄膜生產(chǎn)線上的測量系統(tǒng)。其功能是在生產(chǎn)過程中測量薄膜的主要參數(shù),從而控制生產(chǎn)線的運行。越來越多的客戶認可在薄膜生產(chǎn)線上配備薄膜測厚儀。薄膜測厚儀的作用主要體現(xiàn)在三點上。1.準確測量和顯示薄膜厚度和橫向分布剖面;2.通過手動或自動調(diào)整,將模頭螺栓的位置準確對應于膜的橫向剖面,使膜的橫向均勻性達到較佳,快速有效地控制產(chǎn)品精度;3.通過有效調(diào)整邊緣和偏差,減少邊緣材料損失,提高
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洛陽LSL-X射線測厚儀非接觸測量橡膠塑料金屬造紙等薄厚儀器
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