電鍍層測厚儀的熒光X射線儀檢測原理

時(shí)間：2020-08-14作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：160

● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征
*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
*可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
*薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外，適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。（SII**）
● 2.測量原理
如圖1所示，物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照線后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

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