超聲波探傷儀是一種便攜式工業(yè)無(wú)損探傷儀器,它能夠快速、便捷、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室,也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。超聲波探傷儀廣泛應(yīng)用在鍋爐、壓力容器、航天、航空、電力、石油、化工、海洋石油、管道、**、船舶制造、汽車、機(jī)械制造、冶金、金屬加工業(yè)、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、核能電力、高校等行業(yè)。
?超聲波探傷儀一般都可自動(dòng)檢測(cè)、計(jì)算、記錄,有些還能自動(dòng)進(jìn)行深度補(bǔ)償和自動(dòng)設(shè)置靈敏度,因此檢測(cè)速度快、效率高,檢測(cè)精度高。超聲波探傷儀對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行高速數(shù)據(jù)采集、量化、計(jì)算和判別,其檢測(cè)精度可**傳統(tǒng)儀器檢測(cè)結(jié)果。記錄和檔案檢測(cè)。
?超聲波探傷儀可以提供檢測(cè)記錄直至缺陷圖像。可全面、客觀地采集和存儲(chǔ)數(shù)據(jù),并對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)處理或后處理,對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)域、頻域或圖像分析,還可通過(guò)模式識(shí)別對(duì)工件質(zhì)量進(jìn)行分級(jí),減少了人為因素的影響,提高了檢索的可靠性和穩(wěn)定性等功能特點(diǎn)。
超聲波探傷儀專業(yè)探傷裂痕沙眼等高精度無(wú)損檢測(cè)儀器
超聲波探傷儀F2儀器特點(diǎn):
高分辨率EL,*特的遮陽(yáng)設(shè)計(jì),符合人體工程學(xué)。采用**ARM處理器,系統(tǒng)響應(yīng)速度快,實(shí)時(shí)性好。采用性能**的前置放大器,大大減小檢測(cè)盲區(qū)。簡(jiǎn)潔易用的人機(jī)交互,儀器操控性強(qiáng)。高達(dá)4 GB海量存儲(chǔ),能夠進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的探傷波形動(dòng)態(tài)記錄,存儲(chǔ)大量波形信息。具有豐富的通信接口,強(qiáng)大的數(shù)據(jù)備份和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)儲(chǔ)能力。防水等級(jí)IP64鍵盤背光功能探頭接口采用瑞士原裝進(jìn)口的LEMO接頭,美觀大方,耐用性好。增加Ethernet網(wǎng)口,可接入以太網(wǎng)。增加了大量的操作提示信息,人機(jī)交互界面較加友好。用戶可根據(jù)自己喜好來(lái)選擇不同的屏幕顏色。內(nèi)置AWS、API5UE等多種標(biāo)準(zhǔn)。屏幕分辨率
超聲波探傷儀F2主要性能指標(biāo):
探測(cè)范圍:(0~9999)mm工作頻率:(0.25~20)MHz各頻段等效輸入噪聲:<15%聲速范圍:(1000~20000)m/**脈沖:負(fù)脈沖s能量可選擇,適用探頭范圍廣脈沖寬度在(0.1~0.5)μs 范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié),以匹配不同頻率的探頭脈沖幅度:低(300伏)、中(500伏)、高(700伏)分級(jí)選擇,適用探頭范圍廣脈沖寬度:在(0.1~0.5)μs 范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié),以匹配不同頻率的探頭.探頭阻尼:50Ω,150Ω、300Ω、400Ω可選,滿足靈敏度及分辨率的不同工作動(dòng)態(tài)范圍:≥36dB 數(shù)字抑制:(0~80)%,不影響線性與增益垂直線性誤差:≤2.6%水平線性誤差:≤0.1%分 辨 力:>38dB靈敏度余量:60dB.電噪聲電平:≤10%濾波頻帶: (0.25~20)MHz,根據(jù)探頭頻率全自動(dòng)匹配,*手動(dòng)設(shè)置探傷通道:200組探傷工作通道探頭接口:LEMO接口, ERA.1S探頭類型: 直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭報(bào) 警: 蜂鳴器報(bào)警, 鍵盤背光燈報(bào)警電 源: 直流(DC)9V;鋰電池連續(xù)工作6~8 小時(shí)以上外型尺寸:220×156 × 58 (mm) 結(jié)構(gòu)待定環(huán)境溫度:(-10~50)℃相對(duì)濕度:(20~95)%RH注:以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測(cè)得的。
超聲波探傷儀F2主要功能參數(shù):
數(shù)據(jù)采集:硬件實(shí)時(shí)采樣:10 位AD 轉(zhuǎn)換器,采樣速度125MHz,波形高度保真。檢波方式:正半波、負(fù)半波、全波、射頻檢波。閘門讀數(shù):?jiǎn)伍l門和雙閘門讀數(shù)方式可選;閘門內(nèi)峰值讀數(shù)、邊緣檢測(cè)可選。增益:0-110dB,較小增益調(diào)節(jié)量0.1dB,*特的全自動(dòng)增益調(diào)節(jié)及掃查增益功能。探傷功能波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷較高波,記錄缺陷較大值。Φ值計(jì)算:直探頭鍛件探傷找準(zhǔn)缺陷較高波后自動(dòng)計(jì)算、顯示缺陷當(dāng)量尺寸。缺陷定位:實(shí)時(shí)顯示缺陷水平、深度(垂直)、聲程位置。缺陷定量:缺陷當(dāng)量dB 值實(shí)時(shí)顯示缺陷定性:通過(guò)回波包絡(luò)波形,方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷探頭頻率檢測(cè):通過(guò)抓取回波,準(zhǔn)確檢測(cè)出探頭的中心頻率,500mm范圍內(nèi)任意波幅回波,一鍵輕松完成檢測(cè)曲面修正:修正斜探頭圓管檢測(cè)時(shí)的深度和水平距離修正模式:內(nèi)弧/ 外弧DAC/AVG:曲線自動(dòng)生成,取樣點(diǎn)不受限制,并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線隨增益自動(dòng)浮動(dòng)、隨聲程自動(dòng)擴(kuò)展、隨延時(shí)自動(dòng)移動(dòng)。能顯示任意孔徑的AVG 曲線。裂紋測(cè)高:利用端點(diǎn)衍射波自動(dòng)測(cè)量、計(jì)算裂紋高度。B型掃描:采用定時(shí)掃描方式形成B型圖像門內(nèi)展寬:放大回波細(xì)節(jié),便于回波分析動(dòng)態(tài)記錄:檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄、存儲(chǔ)、回放波形,每段記錄可達(dá)8分鐘,。波形凍結(jié):凍結(jié)屏幕上顯示的波形,便于缺陷分析焊縫圖示:顯示焊縫坡口形式和聲束走向,直觀顯示缺陷位置。內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn):可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)回波編碼:輸入工件厚度,儀器根據(jù)一次波、二次波及多次波的區(qū)域能生成不同的背景色彩。工作方式:直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探傷閘門報(bào)警:門位、門寬、門高任意可調(diào);B 閘門可選擇設(shè)置進(jìn)波報(bào)警或失波報(bào)警;數(shù)據(jù)存儲(chǔ)200 組探傷參數(shù)通道,可預(yù)先調(diào)校好各類探頭和儀器的組合參數(shù),自由設(shè)置各行業(yè)探傷標(biāo)準(zhǔn);可存儲(chǔ)10000 幅探傷回波信號(hào)及參數(shù),實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)、讀出及通過(guò)USB接口傳輸。實(shí)時(shí)時(shí)鐘實(shí)時(shí)探傷日期、時(shí)間的跟蹤記錄,并記錄存儲(chǔ)。通訊接口USB主機(jī)接口和從機(jī)接口,既能與PC機(jī)通信,又能方便地訪問(wèn)U盤。藍(lán)牙無(wú)線通信模塊。電池模塊高容量鋰電池模塊,在線充電和脫機(jī)充電兩種充電方式,方便探傷人員使用。
詞條
詞條說(shuō)明
產(chǎn)品型號(hào):OVA-02產(chǎn)品名稱:OVA-02光纖可變衰減器產(chǎn)品貨號(hào):產(chǎn)品價(jià)格:0產(chǎn)品品牌:星楓儀器產(chǎn)品類別:物理性質(zhì)檢測(cè)儀器OVA-02光纖可變衰減器是為光纖中的光強(qiáng)度提供并保持一定量的衰減的手持式儀表,適用于單模光纖。其結(jié)構(gòu)小巧,性能穩(wěn)定并能承受一定的震動(dòng)和沖擊。而它雙向衰減的設(shè)計(jì)思想使其使用簡(jiǎn)便,很適用于野外施工。在使用中,OVA-02需要與光源和光功率計(jì)配合使用。 OVA-02光纖可變衰減器
基本功能 VC63B 測(cè)試范圍 振動(dòng)位移(P-P) 0~1999μm 振動(dòng)速度(RMS) 0~199.9mm/s 振動(dòng)加速度(O-P) 0~199.9m/s 頻響范圍與幅值誤差 振動(dòng)位移(P-P) 10~200Hz,≤±10% 振動(dòng)速度(RMS) 10~500Hz,≤±10% 振動(dòng)加速度(O-P) 10~1000Hz,≤±10% 幅值線性誤差 振動(dòng)位移(P-P) 0~20μm,≤±10% ≥20
江西UV752N紫外可見分光光度計(jì)選購(gòu)指南
UV752N紫外可見分光光度計(jì) 通過(guò)2011-2013年度紫外可見分光光度計(jì)3年期產(chǎn)品質(zhì)量國(guó)家監(jiān)督抽查首年檢測(cè). 基本原理: ● 分光光度計(jì)分析法是基于不同分子結(jié)構(gòu)的物質(zhì)對(duì)電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。 ● 應(yīng)用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm~1000nm為紫外可見分光光度計(jì)。 ● 采用微處理機(jī)控制技術(shù),在紫外可見光譜區(qū)域內(nèi)對(duì)物質(zhì)作定性、定量分析,是常規(guī)實(shí)驗(yàn)室*的多用途分析儀器。 通過(guò)2
測(cè)厚儀是否只有人們認(rèn)知的五大類分類,星楓儀器來(lái)詳細(xì)講解下測(cè)厚儀的分類。 測(cè)厚儀一般有以下八種類型?: 1.磁性測(cè)厚儀:適用層磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測(cè)量精度高。 2.渦流測(cè)厚儀:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。 3.超聲波測(cè)厚儀:目前輛還沒(méi)有此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯(lián)系人: 黃經(jīng)理
電 話: 0791-85226050
手 機(jī): 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區(qū)南昌市青云譜區(qū)三點(diǎn)西路44號(hào)
郵 編: 330001
網(wǎng) 址: 0a05e41548.cn.b2b168.com
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