常見(jiàn)芯片開(kāi)封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介
Wayne Zhang(似空科學(xué)儀器(上海)有限公司)
2022.10.11
芯片失效分析(FA, Failure Analysis)的常見(jiàn)方法中,包含非破壞性分析(無(wú)損檢測(cè),如超聲波、X-RAY分析)、破壞性物理分析(有損檢測(cè),如芯片開(kāi)封/開(kāi)蓋、切片制樣)、I-V電氣特性分析、EMMI微光檢測(cè)等。
其中芯片開(kāi)封/開(kāi)蓋分析是DPA(破壞性物理分析)的重要手段,是研究芯片封裝效果和技術(shù)的一種必要方法。
本文簡(jiǎn)單概述常見(jiàn)芯片開(kāi)封技術(shù)和儀器。
點(diǎn)擊了解更多 //
點(diǎn)擊了解更多 //
點(diǎn)擊了解更多 //
點(diǎn)擊了解更多 //
5、離子開(kāi)封
其原理是通過(guò)高壓電場(chǎng)加速帶電離子,用其轟擊目標(biāo)材料,使它們脫落。本質(zhì)上是物理開(kāi)封,帶有某些化學(xué)效果。
優(yōu)點(diǎn)是精度非常高,可處理多種目標(biāo)材料。
缺點(diǎn)是不容易控制幾何形狀,速度慢,儀器價(jià)格昂貴。
該領(lǐng)域的**設(shè)備供應(yīng)商主要來(lái)自日本、歐洲和美國(guó)。
點(diǎn)擊了解更多 //
詞條
詞條說(shuō)明
SmartScope MVP和SmartScope Flash/CNC測(cè)量系統(tǒng)的相機(jī)新配備
數(shù)碼相機(jī)的好處是很多的-提供較好的測(cè)量性能,高可靠性和較低的成本。SmartScope 的系列產(chǎn)品諸如SmartScope Flash/CNC 具有優(yōu)異的相機(jī)配置。?與相同的系統(tǒng)及傳統(tǒng)模擬相機(jī)相比,一套優(yōu)異的數(shù)字測(cè)量相機(jī)可以實(shí)現(xiàn)較快的測(cè)量與較好的分辨率和精度。只要光學(xué)系統(tǒng)和相機(jī)像素大小與待測(cè)部件和特征匹配良好,像素越多,分辨率就越高。沒(méi)有顯卡;因此可以使用較緊湊的計(jì)算機(jī)。連接很簡(jiǎn)單,并且
產(chǎn)品演示系列:Makrolite 4K數(shù)碼顯微鏡
Makrolite 4K是英國(guó)工業(yè)顯微鏡有限公司在2022年新推出一款4K分辨率的**高清晰度的數(shù)碼顯微鏡,優(yōu)秀的圖像質(zhì)量,較清晰的成像顯示目標(biāo)物較精細(xì)的細(xì)節(jié),并提高生產(chǎn)率及準(zhǔn)確率,減少浪費(fèi)和由樣品質(zhì)量導(dǎo)致的問(wèn)題。? ???以下視頻為您演示Makrolite 4K**高清數(shù)碼顯微鏡的*特之處。????? 
常見(jiàn)芯片開(kāi)封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介
常見(jiàn)芯片開(kāi)封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介?Wayne Zhang(似空科學(xué)儀器(上海)有限公司)2022.10.11?? ? ? ?芯片失效分析(FA, Failure Analysis)的常見(jiàn)方法中,包含非破壞性分析(無(wú)損檢測(cè),如超聲波、X-RAY分析)、破壞性物理分析(有損檢測(cè),如芯片開(kāi)封/開(kāi)蓋、切片制樣)、I-V電氣特性分析、EMMI微光檢測(cè)等。
Smart Scope FLASH/CNC等系列OGP影像測(cè)量設(shè)備優(yōu)勢(shì)
??大多數(shù)傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡都具有共同的光學(xué)特性,包括具有相對(duì)較小的視場(chǎng)和較淺的焦距。傳統(tǒng)的比較儀通常也有一個(gè)淺景深。視場(chǎng)根據(jù)屏幕大小和放大率而變化。?例如,一個(gè)14英寸的比較儀(100x)一次只能看到零件的0.14英寸,而一個(gè)30英寸的比較儀(10x)一次只能看到零件的3.0英寸。對(duì)于傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡和比較儀來(lái)說(shuō),視場(chǎng)相對(duì)較小,為了測(cè)量整個(gè)零件,需要進(jìn)行多級(jí)移
公司名: 似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系人: 張經(jīng)理
電 話: 13817595909
手 機(jī): 18657401082
微 信: 18657401082
地 址: 上海浦東張江浦東新區(qū)碧波路 690 號(hào)張江微電子港 7 號(hào)樓 6 樓
郵 編:
網(wǎng) 址: kenndt.cn.b2b168.com
公司名: 似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系人: 張經(jīng)理
手 機(jī): 18657401082
電 話: 13817595909
地 址: 上海浦東張江浦東新區(qū)碧波路 690 號(hào)張江微電子港 7 號(hào)樓 6 樓
郵 編:
網(wǎng) 址: kenndt.cn.b2b168.com
¥660000.00
¥1000000.00
上海鉑蒂BD-YS670玉石內(nèi)部裂紋缺陷檢測(cè)探傷儀
¥28800.00
¥1000.00