PCB測(cè)試探針-支持各種定制

時(shí)間：2021-12-20作者：上海里庫電子科技有限公司瀏覽：200

探針，英文Test probe，是電測(cè)試的接觸媒介，是**精密型電子元器件。

PCB測(cè)試探針，主要用于各種尺寸的PCB PAD的測(cè)試，PCB測(cè)試探針的選型主要是根據(jù)線路板（PCB）板的中心距和被測(cè)點(diǎn)的形狀而定的，PCB板上所要測(cè)試的點(diǎn)與點(diǎn)之間越近，選用探針的外徑也就越細(xì)。一根探針主要是由外殼、中心針、彈簧、內(nèi)導(dǎo)體等部分所組成，探針如何設(shè)計(jì)才能滿足客戶所需的測(cè)試頻率、空間，使用壽命等條件，上海里庫電子科技不斷推陳出新，精益求精，不斷設(shè)計(jì)、研發(fā)和制造出符合客戶需求的多種PCB PAD測(cè)試探針。

如下

圖一是帶有方向的PCB測(cè)試探針，尾端有可接線纜、SMA、SSMA三種不同樣式可供選擇

圖二是根據(jù)客戶需求定制的PCB測(cè)試探針

圖三是五針測(cè)試探針/SMA-KHD PCB PAD測(cè)試探針

更多PCB PAD測(cè)試探針，歡迎聯(lián)系REECU/里庫電子。




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