北軟失效分析實(shí)驗(yàn)室參觀

時(shí)間：2020-07-03作者：儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司瀏覽：122

畢業(yè)季臨近，一大批高校學(xué)子將
走出校園，踏入全新的科創(chuàng)生涯
特殊時(shí)期，困難攔不住研學(xué)實(shí)習(xí)的腳步
芯學(xué)院全新業(yè)務(wù)“企業(yè)認(rèn)知實(shí)習(xí)”正在進(jìn)行中
首站云端實(shí)習(xí)聯(lián)合北京工業(yè)大學(xué)
為莘莘學(xué)子提供線(xiàn)上實(shí)習(xí)寶貴機(jī)會(huì)
北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)檢驗(yàn)中心的參觀過(guò)程中，講解員首先向同學(xué)們介紹了兩臺(tái)高低溫實(shí)驗(yàn)箱和一臺(tái)激光開(kāi)封機(jī)，然后在高潔凈空間實(shí)驗(yàn)室中依次介紹了探針臺(tái)、IV曲線(xiàn)測(cè)試儀、EMMI（微光顯微鏡）、芯片切割制樣設(shè)備、X-Ray以及帶有電子顯微鏡、能譜儀，具有納米級(jí)電路切割和連接能力的FIB（聚焦離子束）設(shè)備；最后帶同學(xué)們參觀了芯片安全實(shí)驗(yàn)室，介紹了激光注入、電磁注入、電壓毛刺注入以及側(cè)信道攻擊設(shè)備。
通過(guò)本次參觀，讓同學(xué)們看到了一些在學(xué)校不太常見(jiàn)但相關(guān)行業(yè)不可或缺的芯片檢測(cè)設(shè)備，幫助同學(xué)們真正了解行業(yè)和專(zhuān)業(yè)需求，為明確自身發(fā)展方向提供較廣闊的思路。
成立于2002年7月，是經(jīng)北京市編辦批準(zhǔn)，由北京市科學(xué)技術(shù)**和北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月，國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局批準(zhǔn)在北軟檢測(cè)基礎(chǔ)上籌*家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心，2004年1月，國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局批準(zhǔn)在北軟檢測(cè)基礎(chǔ)上籌*家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心（簡(jiǎn)稱(chēng)：國(guó)軟檢測(cè)），2004年10月國(guó)軟檢測(cè)通過(guò)驗(yàn)收并正式獲得授權(quán)，成為我國(guó)**個(gè)**的軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。


儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司專(zhuān)注于手動(dòng)探針臺(tái),probe,station等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 芯片技術(shù)

  不可思議的芯片技術(shù) 《論語(yǔ)·學(xué)而》當(dāng)中有一句話(huà)叫“如切如磋、如琢如磨”。宋代的大學(xué)者朱熹有這樣的注語(yǔ)：“嚴(yán)治骨角者，即切之而復(fù)蹉之；治玉石者，既琢之而復(fù)磨之，治之已精，而益求其精業(yè)”。這句話(huà)的意思也就是精益求精，這個(gè)詞用在集成電路或者芯片上是較貼切不過(guò)的。 下圖是2007年**半導(dǎo)體技術(shù)路線(xiàn)圖。圖中縱軸指的是可以沿著摩爾定律一直不斷的微縮下去，到今天為止，工藝技術(shù)節(jié)點(diǎn)已經(jīng)來(lái)到了7nm，很快5nm也

• PCB失效分析

  失效分析就是要分析損壞的產(chǎn)品從而為改進(jìn)設(shè)計(jì)或明確責(zé)任提供素材的工作。但是從行業(yè)來(lái)看，目前很多公司特別是中小型公司的失效分析做的并不好。 中國(guó)有句俗話(huà)叫：“吃一塹，長(zhǎng)一智”，《論語(yǔ)》中也有“**過(guò)”的說(shuō)法。其本質(zhì)就是要從失敗中吸取教訓(xùn)避免進(jìn)一步的犯錯(cuò)。 一方面，一些中小型電子產(chǎn)品生產(chǎn)商沒(méi)有良好的物料控制體系，不能對(duì)物料進(jìn)行有效的追溯。一旦出了問(wèn)題，很難查到當(dāng)年的渠道和來(lái)源。甚至不能保證物料的真?zhèn)?。較

• 芯片失效分析流程

  典型失效分析流程失效分析 一、失效分析簡(jiǎn)述 失效分析是一門(mén)新興發(fā)展中的學(xué)科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。 二、開(kāi)展失效分析的意義 失效分析對(duì)產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義，失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個(gè)階段，涉及產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計(jì)、來(lái)料檢驗(yàn)、加工組裝、測(cè)試篩選、客戶(hù)端使用等各個(gè)環(huán)節(jié)，通過(guò)分析工藝廢次品、早期失效、試驗(yàn)失效、中試失效以及現(xiàn)場(chǎng)失效的樣

• 雙束FIB設(shè)備介紹

  主要優(yōu)勢(shì) 使用 Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡(jiǎn)便地制備高質(zhì)量、定位TEM 和原子探針樣品 Thermo Scientific NICol? 電子鏡筒可進(jìn)行**高分辨率成像， 滿(mǎn)足較廣泛類(lèi)型樣品（包括磁性和不導(dǎo)電材料）的較佳成像需求 各類(lèi)集成化鏡筒內(nèi)及較靴下探測(cè)器，采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無(wú)荷電圖像，提供較完整的樣品信息 可選AS&V4軟件，精確定位感興趣區(qū)域，獲取優(yōu)質(zhì)、多模態(tài) 內(nèi)部和三維信息 高