集成電路IC卡高溫測試

時間：2023-07-04作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：122

在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測試的，來測試其在高低溫環(huán)境下的性能，

集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進行環(huán)境測試，以此來對集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進行模擬，集成電路高低溫測試是依靠封裝級和晶片級集成電路**高低溫測試機，來協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測試、冷熱沖擊測試、老化測試等測試。芯片的高/低溫度測試可以在一秒內(nèi)實現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達到±1℃，非常適用于芯片的高/低電學特性測試。

芯片的高、低溫度試驗采用了空氣壓縮機，將干燥、清潔的空氣送入冰箱，在冰箱中對其進行低溫處理，再通過外部管道送至加熱頭，使其溫度升高；將被測電路 IC卡放置在熱流罩的位置，按照操作者設(shè)定，噴出與設(shè)定溫度相差±1℃的氣流，來進行電路板的高低溫測試。集成電路的高、低溫測試都有自己的過熱溫度保護系統(tǒng)，在工廠的設(shè)定溫度是+125℃，操作者可以按照自己的實際需求來設(shè)定高、低溫的限**，一旦溫度**過設(shè)定的溫度，測試儀就會自動停止工作。將待測 IC卡和溫度傳感器放在集成電路高低溫測試的測試腔中，操作者設(shè)定需要測試的溫度范圍，從而開始集成電路高低溫測試。使用空壓機，將干燥、潔凈的空氣送入制冷機，對其進行低溫處理，之后，通過外部管線，使空氣達到加熱頭的溫度。


廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

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