平板電腦可靠度測試

時間：2023-06-28作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：55

平板電腦是一個具有強大功能的電子產(chǎn)品，隨處可見它的蹤影，但是平板電腦在攜帶使用時只有簡易外套保護或甚至沒有，而且在移動的過程當中也會經(jīng)歷到許多環(huán)境物理量的變化(如溫度、濕度、沖擊等)以及自然破壞(如紫外線、太陽光、鹽霧等)，也會造成人為的非故意傷害或不正常當機及誤動作，甚至造成故障與破壞，這些都會縮短平板電腦的壽命。

為了確保產(chǎn)品可靠度以及延長使用壽命，我們必須對平板電腦進行多項環(huán)境可靠度試驗項目。

（一）高低溫試驗

測試條件

操作溫濕度范圍：0℃～35℃/5%～95%RH

儲存溫濕度范圍：-10℃～50℃/10%～90%RH

操作低溫試驗：-10℃/2h/通電運轉(zhuǎn)

操作高溫試驗：40℃/8h/通電運轉(zhuǎn)

儲存低溫試驗：-20℃/96h/關(guān)機

儲存高溫試驗：60℃/96h/關(guān)機

車載儲存高溫試驗：85℃/96h/關(guān)機

 

推薦方案

高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱

（二）溫度沖擊

測試條件

-40℃(30min)←R.T.→80℃(30min)/10cycle

推薦方案

兩箱提籃式冷熱沖擊試驗箱、三箱換氣式冷熱沖擊試驗箱

（三）濕熱試驗

測試條件

40℃/95%R.H./48h/通電待機

推薦方案

高低溫濕熱試驗箱

（四）濕熱循環(huán)試驗

測試條件

40℃/95%R.H./1h→ramp:1℃/min→-10℃/1h，20cycles

推薦方案

高低溫濕熱試驗箱

（五）紫外線試驗

測試條件

依據(jù)ASTM-G-154條件50℃/4h←→UVA：340nm/溫度：60℃/4h，一個循環(huán)8h，共96h，試驗后檢查表面外觀與顏色。

推薦方案

紫外線加速老化試驗箱Q8-UV

（六）耐候試驗

測試條件

模擬自然條件較嚴峻的狀況，進行太陽光熱效應試驗，每循環(huán)24小時，其中8小時連續(xù)照射，16小時保持黑暗，每個循環(huán)輻射量為8.96 kWh/m2，共10cycles。

推薦方案

氙燈耐候試驗箱Q8-SUN

（七）鹽霧試驗

測試條件

5%氯化鈉鹽溶液/水溫35°C / PH 6.5~7.2/24h/關(guān)機→純水擦拭外殼→55°C/0.5h→功能測試：2小時后、40/80%R.H./168h后。

推薦方案

鹽霧試驗箱


廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 調(diào)溫調(diào)濕箱的使用說明

  調(diào)溫調(diào)濕箱適用于各種小型電器，布料，儀表材料及原件的溫熱濕熱試驗，儀器采用了**可靠的智能儀表。能準確穩(wěn)定地控溫控濕，操作簡單，是做恒溫恒濕試驗的理想設備。 主要技術(shù)規(guī)格 1、電源電壓：220V±10% 2、總功率：1.25KW 3、有效容積：450X530X580mm 4、控溫范圍：20--50±1°C 5、控濕范圍：45--95%±3% 使用方法 1、開啟電源，設定好需要的試驗溫度與濕度，儀

• 三箱冷熱沖擊試驗機除霜頻率的設定

  三箱冷熱沖擊試驗機適用于電子、電器零配件、自動化零件、通訊元件、汽車零件、金屬、塑料、*工業(yè)、航天、自動化零件、通訊元件、兵工、電子晶片、半導體陶瓷及聚合物材料的物理性變化，測試其材料在熱脹冷縮時所產(chǎn)生的化學變化或物理損傷，測試其材料對高、低溫的反復拉伸能力和產(chǎn)品的物理損傷。可以驗證產(chǎn)品質(zhì)量，從精細IC到重機械元件，都需要理想的測試工具來進行測試。除霜頻率有兩種，一種是按時間進行除霜，即設備運行

• labcompanion無風高低溫防爆環(huán)境試驗箱助力鋰電研發(fā)可靠

  labcompanion針對鋰電池行業(yè)的研究，與行業(yè)客戶聯(lián)合，對鋰電池做高低溫環(huán)境溫度模擬配合充放電測試，使用同一生產(chǎn)批次鋰離子動力電芯，測試采用了7種方式：改變風向、調(diào)整風速、制作容器、電池表面貼板等等，在-20℃條件下進行放電測試，7項測試方式分析如下：1、（調(diào)整風速）采用上出風下回風結(jié)構(gòu)，通過變頻器調(diào)節(jié)電機轉(zhuǎn)速，降低箱體內(nèi)循環(huán)風的風速；①風速降低到1m/s后，箱體內(nèi)的溫度均勻指標與波動指標在

• 半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項

  半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測試，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內(nèi)檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導體芯片高低溫測試時需要用