低氣壓試驗(yàn)條件和標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間：2023-06-13作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：75

1、試驗(yàn)氣壓

GJB 150不適用于飛行高度**過30 000m的航天器、飛機(jī)或導(dǎo)dan上的裝備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對(duì)應(yīng)的低氣壓值。

對(duì)比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗(yàn)條件有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變??；

GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J 10個(gè)不同條件下的高度氣壓值，并且所列的高度-氣壓表中的試驗(yàn)條件由A到試驗(yàn)條件E有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小，而由試驗(yàn)條件F到試驗(yàn)條件J沒有呈現(xiàn)規(guī)律性。

與GJB 548所列的試驗(yàn)條件對(duì)比，GJB 360 試驗(yàn)條件增加了條件H到試驗(yàn)條件J，對(duì)應(yīng)的氣壓高度條件分別為：H：3 000m 70kPa；J：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。

2、試驗(yàn)時(shí)間

GJB 360B-2009規(guī)定：若無其他規(guī)定，試驗(yàn)樣品在低氣壓條件下的試驗(yàn)時(shí)間，可從下列數(shù)值中選取：5min、30min、1h、2h、4h和16h。

3、升降壓速率

通常不大于10kPa/min。

低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

1. GJB 150.2A-2009 《jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 *二部分 低氣壓（高度）試驗(yàn)》

2. GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法105低氣壓試驗(yàn)》（等效美jun標(biāo)MIL-STD-202F ）

3. GJB 548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1001 低氣壓（高空作業(yè)）》（等效美jun標(biāo)MIL-STD-883D)

4. GB/T 2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 總則》

5. GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M低氣壓試驗(yàn)方法》

6. GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》

7. GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》

8. GB/T 2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD 高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)訪求》

9. GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》

10. MIL-STD-810F 《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 低氣壓（高度）試驗(yàn)》

11. 溫度、壓力、高度關(guān)系GB1920

12. IEC 60068-2-41（1976）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 *二部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BM 高溫/低氣壓試驗(yàn)》


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