釘是釘，鉚是鉚，符合AMS2750標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱

時間：2022-09-14

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
判斷電容器壽命與溫度的相關(guān)性—10度法則
容器的壽命是一般電子產(chǎn)品壽命的較低要求，在高低溫試驗(yàn)箱、高溫老化房等實(shí)驗(yàn)設(shè)備作高低溫試驗(yàn)和老化試驗(yàn)的過程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關(guān)系的一個基本的簡單原則。溫度是環(huán)境應(yīng)力中經(jīng)常的參數(shù)，通過高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等試驗(yàn)設(shè)備得以實(shí)現(xiàn)。材料、產(chǎn)品或者元器件在試驗(yàn)箱中通過電熱管加熱產(chǎn)生溫升，或者高溫（比如70℃，甚至150℃等），或
PCB的環(huán)境測試有哪些類型
高加速試驗(yàn)加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測試評估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性，包括高溫、高濕和設(shè)備通電時的振動/沖擊測試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測試期間，產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中，因此PCB可靠性的常見測試是吸水測試。在這種類型的測試中，PCB在
冷熱沖擊試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)簡介
冷熱沖擊試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)簡介冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。主要用于對產(chǎn)品按照國家*標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。冷熱沖擊試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)：
Jun用溫濕度傳感器設(shè)備環(huán)境可靠性測試
jun用溫濕度傳感器設(shè)備環(huán)境可靠性檢測的內(nèi)容如下：溫度循環(huán)試驗(yàn)：快速溫變試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)；環(huán)篩振動試驗(yàn)：均方根值6.06G，普遍jun用電子設(shè)備環(huán)篩振動測試量級；溫濕度精度檢測：經(jīng)過低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕三個主要測試階段，高溫工作試驗(yàn)：高溫過程中全程通電試驗(yàn)，到達(dá)高溫溫度點(diǎn)需穩(wěn)定一段時間，zui后需恢復(fù)到常溫保持2h;低溫工作試驗(yàn)：低溫過程中全程通電試驗(yàn)，到達(dá)低溫溫度點(diǎn)需