ICT測(cè)試治具

時(shí)間：2022-03-07作者：深圳市歐亞德機(jī)械設(shè)備有限公司瀏覽：276

產(chǎn)品數(shù)據(jù)：
1.應(yīng)用Pitch：0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2.材料：FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+Ceramic
3.適用封裝：BGA/QFP/QFN/WCSP等
4.結(jié)構(gòu)：雙扣、翻蓋旋鈕、翻蓋、Open-top
5.接觸方式：探針

產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、高精度的定位槽和導(dǎo)向孔，測(cè)試準(zhǔn)確無(wú)誤
2、根據(jù)實(shí)際測(cè)試情況，選用不同探針，可以對(duì)?IC進(jìn)行有錫球、無(wú)錫球不同測(cè)試
3、人性化設(shè)計(jì)，探針可更換，便于拆卸、維護(hù)，?降低測(cè)試成本
4、進(jìn)口探針、工程材料結(jié)配合高精度制作設(shè)備，?Socket測(cè)試較穩(wěn)定，使用壽命較長(zhǎng)

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

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