目前為止,大多數(shù)礦場(chǎng)的勘探人員使用的檢測(cè)礦產(chǎn)的儀器是手持X熒光光譜儀,創(chuàng)想儀器的X熒光光譜儀憑借其自身優(yōu)勢(shì)可以靈活運(yùn)用到礦場(chǎng)中。創(chuàng)想小編為您詳細(xì)解答下。
在進(jìn)行礦場(chǎng)定位時(shí),勘探人員都是在環(huán)境各異的條件下。如此一來對(duì)檢測(cè)所需的設(shè)備要求自然不低。手持X熒光光譜儀可謂是十分的堅(jiān)固耐用,即使設(shè)備不慎掉落,也不會(huì)損壞設(shè)備的檢測(cè)功能,如此堅(jiān)固耐用的設(shè)備,讓勘測(cè)人員較放心。除了自身外殼堅(jiān)固耐用之外,創(chuàng)想儀器手持式X熒光光譜儀是尋找礦場(chǎng)的較佳助手,該X熒光光譜儀環(huán)境適應(yīng)力很強(qiáng),*等待設(shè)備冷卻即可進(jìn)行新的檢測(cè),節(jié)省了大量的工作時(shí)間。
創(chuàng)想儀器手持X熒光光譜儀可以快速的提供有助于正確決策地球化學(xué)的數(shù)據(jù),再加上設(shè)備具有實(shí)時(shí)分析功能,可以向?qū)嶒?yàn)室運(yùn)送較少的樣本,在節(jié)省成本的同時(shí)還提高了工作效率。創(chuàng)想儀器手持X熒光光譜儀可以即時(shí)篩查露天爆破孔的樣品,減少對(duì)礦場(chǎng)實(shí)驗(yàn)室的依賴,再加上適當(dāng)?shù)牟蓸臃椒?,可以提高?duì)地下礦產(chǎn)品質(zhì)的控制。設(shè)備的檢測(cè)結(jié)果也十分的準(zhǔn)確,且具有高重復(fù)性。簡(jiǎn)單說,我們用 創(chuàng)想儀器手持X熒光光譜儀從開始檢測(cè)到無數(shù)次檢測(cè),都能夠獲得同樣準(zhǔn)確的結(jié)果。
創(chuàng)想手持式X熒光光譜儀
作為典型的環(huán)境監(jiān)測(cè)和修復(fù)過程中的一個(gè)環(huán)節(jié),X熒光光譜儀可以對(duì)仍在使用或已經(jīng)關(guān)閉的工業(yè)地產(chǎn)附近的土壤、沉積物、灰塵、尾礦中的元素進(jìn)行快速識(shí)別,檢測(cè)是否有危害環(huán)境和人類身體健康的危險(xiǎn)元素。X射線熒光光譜儀作為一種快速可靠的分揀工具,可以提供易于歸檔的環(huán)境監(jiān)測(cè)的量化記錄。
詞條
詞條說明
直讀光譜儀在90年代以前只能分析金屬中氣體元素C,S。后來光譜儀生產(chǎn)技術(shù)的提高。金屬中氣體元素系指C,S,N,O,H.九十年代以前光電直讀光譜儀只能分析C,S.。隨著光譜還有可用于遠(yuǎn)紫外的光電倍增管的出現(xiàn),對(duì)充惰性氣體光學(xué)系統(tǒng)的重新認(rèn)識(shí)與改進(jìn),光電直讀光譜對(duì)于氣體元素分析有了巨大的飛躍。對(duì)于氮的分析是光電直讀光譜分析新的突破,在較初是用174.27nm譜線測(cè)量,但是測(cè)量穩(wěn)定性差,氮的含量也得高,所
手持式光譜儀怎么把測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理?
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成,由于其便攜具有高效、便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn),使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。那手持式光譜儀測(cè)量數(shù)據(jù)的預(yù)處理方法是什么呢?創(chuàng)想儀器會(huì)在這篇文章里告訴你。手持式光譜儀的測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)處理可以通過以下步驟進(jìn)行:數(shù)據(jù)篩選:檢查測(cè)量數(shù)據(jù)的完整性,例
目前,在眾多分析儀器市場(chǎng)中的手持式光譜儀品牌有很多,那么我們?cè)谶x購(gòu)手持式X射線熒光光譜儀過程中出現(xiàn)很多困難無法選擇自己適合的手持式光譜儀。判斷手持式X射線熒光光譜儀的好與壞,主要從以下幾點(diǎn)進(jìn)行評(píng)估:儀器穩(wěn)定性:穩(wěn)定性是手持式光譜儀需要具備的基本功能。如果每次分析同類型的樣品的結(jié)果時(shí)高時(shí)低,說明光譜儀可能存在質(zhì)量問題。分析速度:手持式光譜儀一般分為全譜型和掃描型,掃描型速度較慢,多用在特殊行業(yè)。大多
在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,準(zhǔn)確測(cè)量金屬鍍層的厚度和成分至關(guān)重要。臺(tái)式X熒光光譜儀作為一種高效、精確的分析工具,能夠滿足這一需求,幫助企業(yè)和研究人員實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬鍍層的無損檢測(cè)。今天創(chuàng)想儀器小編給大家介紹下臺(tái)式X熒光光譜儀在金屬鍍層測(cè)量中的應(yīng)用及其優(yōu)勢(shì)。臺(tái)式X熒光光譜儀的工作原理臺(tái)式X熒光光譜儀利用X射線照射待測(cè)樣品,激發(fā)樣品中的原子產(chǎn)生熒光。每種元素都有其*特的熒光光譜,類似于指紋,因此可以通過分析熒光
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
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