注意事項:
一. 一般情況下不允許修改R 的標(biāo)準(zhǔn)值(電阻并聯(lián)電阻除外)
二. 修改程式的上下范圍必須按以下的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行 .
ü 跳線﹑ Connecter ﹑Fuse﹑電感﹑排感 ﹕
以J測試﹐ Exp-V用1表示﹐+-10% ﹐MODE為 0 ﹐無Guarding , 無 Offset 。
跳線﹕ 當(dāng)Pin-Pin間有跳帽時﹐Exp-V用1表示﹐否則Pin-Pin間測試Exp-V采用4表示。
開關(guān)探針﹕ 以J測試﹐ Exp-V用1表示+-10% ﹐MODE為 0
ü 電阻﹑排阻 ﹕
1﹑0 Ω ﹕按3 Ω 為標(biāo)準(zhǔn)﹐+10%﹐-1%﹔或按J測試﹐MODE為1﹐無Offset﹐+-10%
2﹑2.2 Ω : +60%﹐-30%﹐一般不采用MODE 3﹐無Guarding
3﹑4.7 Ω : +40%﹐-20%﹐ 一般不采用MODE 3 , 無Guarding
4﹑10.0 Ω ﹕ +15%﹐ -10%﹐一般不采用MODE 3﹐可根據(jù)各機(jī)臺稍加Offset
5﹑10. 0Ω 以上﹕ +-10%﹐一般不采用MODE 3 ﹐不加 Offset
6﹑熱敏電阻﹕可適當(dāng)放寬范圍 , 一般不采用MODE 3﹔
7﹑電阻并聯(lián)﹐可按并聯(lián)值(R 1 *R 2 )/(R 1 +R 2 )作標(biāo)準(zhǔn)值﹔+-10% 一般不采用MODE 3
8﹑NC元件﹕一般50KΩ為標(biāo)準(zhǔn)值﹐+Lim:-1% ﹐-Lim﹕10% ﹐有并聯(lián)除外
9﹑并聯(lián) IC 時﹐100K以上電阻+Lim﹕+10%﹔-Lim﹕可稍放寬
10﹑ No Pin的電阻可適當(dāng)考慮用串聯(lián)的方式進(jìn)行測試﹐ 小電阻并聯(lián)大電阻相差20倍時﹐大電阻不予測試﹔
11﹑蜂鳴器﹕做電阻測試﹐Exp-V采用44ohm (據(jù)實際情況) ﹐+-10%﹐無 Guarding ﹐ 一般不采用MODE 3
12﹑FET管作電阻測試﹕Mode 一定 為5﹐+20%﹐ -10% ﹔也可直接選用Type:QF,Mode:22或23
13﹑對測試極不穩(wěn)定的電阻﹐可按PCA上實際電阻量測值作為Exp-V或根據(jù)線路圖分析﹔
14﹑BOM-V一律根據(jù)BOM進(jìn)行填寫。
15﹑可調(diào)電阻﹐以較大值測試﹐+-10% ;或取中間值測試,+ -50%。
ü 電容、排容﹕
1. 10PF或10PF以下電容﹐測試會極不穩(wěn)定﹐Exp-V可加大到30PF或50PF﹐+50%,-40%,也可依實際情況定Exp-V﹐offset定好后不允許隨意更改﹔ 具體依DEBUG原則﹔
2. 10PF以上﹐1nF以下﹐+45%,-35%, offset定好后不允許隨意更改﹔Mode參見Debug原則﹔
3. Exp-V ﹕1nF~99nF﹐+45%,-35%, Mode參見Debug原則﹔
4. Exp-V ﹕100nF﹕+70%,-30%﹐ 無Offset , Mode參見Debug原則﹔
5. Exp-V ﹕1uF﹕+40%,-30%﹐ 無Offset , Mode參見Debug原則﹔
6. Exp-V ﹕10uF以上﹐470uF以下﹐+-30%﹐Mode參見Debug原則﹔
7. Exp-V﹕470uF以上﹐+-20%﹐
8. 并聯(lián)電容Exp-V= C 1 +C 2 + …… + C n ﹐
9. NC元件﹕可以不進(jìn)行測試﹔
10. FET管作電容測試﹕Exp-V約2~10nF﹐+20%﹐-15%﹐Exp-V定下后不能隨意更改﹔
11. BOM-V一律根據(jù)BOM進(jìn)行填寫﹔NC元件BOM-V為0u﹔
12. 小電容并大電容﹐相差20倍以上﹐小電容可以不予測試 (C 1 /(C 1 +C 2 +…C n ))<=5%) 。
13. 微法級電容的電容值小於 1000uF , Mode4 的測試會比 Mode8 來得好且速度也較快;
14. 較大微法級電容值測試不穩(wěn)時﹐可以加放電﹔
15. 當(dāng)規(guī)定的Limit 與 BOM上規(guī)定的 小時 ﹐一律依據(jù)BOM作為標(biāo)準(zhǔn)。
16. 電容極性測試:必加三端測試針,MODE8、18。EXP-V:0.2V,G 以*三腳為G。
17. 實際值以 5V ~ 10V 量測時,標(biāo)準(zhǔn)值之漏電流值約 0.2mA ~ 0.5mA ,若反插時 , 其反向漏電流值會遠(yuǎn)大於正向漏電流值。高點之腳號即是電容+端之測試針號碼 , 而低點之腳號即是電容-端之測試針號碼,通常須加較大的延遲時間,漏電流才會穩(wěn)定。
ü 電感﹕ 除了作J測試外﹐電感主要以L測試﹐+-30%
ü 二極體﹕
1. 發(fā)光二極管用D作Type﹐Mode 用1或 24﹐當(dāng)用24Mode時﹐Exp-V為1. 5V 不允許交換高低點﹐ 偏差 +-30% (把管子點亮)
2. 每個二極管分作兩步測試﹕高﹑低點互調(diào)測試﹐不允許交換高低點和修改Exp-V, 范圍依(1)規(guī)定。
ü 三極管﹕
1. 以 Q 測試﹕+-30% ﹐ 具體參考 Debug原則 ﹐ 不允許交換高低點
2. 以QH為Type的三端測試﹐+-30%﹐ 具體參考 Debug原則﹐ 不允許交換高低點
3. 以上3種方法測試必須同時使用﹔選用Mode時必須參考其實際為PNP還是NPN
4. NC時﹐采用Type:QN測試﹐ BOM-V﹕0.7V﹐ Exp-V為0.7V左右﹐+-30 %
ü FET管﹕
1. 以QF為Type﹐量測漏電流 Ids ﹐ Bom-V依線路圖提供的電壓供給﹐ +-30%﹐不允許交換高低點﹐其Guarding Pin為G。
2. 以QF為Type﹐量測漏電流 Vds ﹐ Bom-V依線路圖提供的電壓供給﹐+30%﹐-1%﹐Exp-V:0.2V, 不允許交換高低點 ﹐ 其Guarding Pin為G 。
3. 還 必須同時采用電阻 或 電容測試﹔不允許交換高低點
ü Clamping Diode
1. 對GND量測﹐+-30%﹐Mode 為2﹐ Guarding Pin 以它本身學(xué)到的為準(zhǔn)﹐ 不允許交換高低點﹔
2. 對VCC量測﹐+-30%﹐Mode 為2﹐ Guarding Pin 以它本身學(xué)到的為準(zhǔn)﹐ 不允許交換高低點﹔
3. 測試不穩(wěn)定時﹐可加放電或4ms以內(nèi)的延遲或重測。
4. 當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)樣板測試值小于0.1V時﹐可以0.1V為Exp-V﹐+30%,-1%﹔
5. 對于較脆弱的Clamping Diode,可根據(jù)實際情況決定其是否測試
6. 如有幾種料導(dǎo)致無法測試時﹐可舍測其中一種。
ü IC Open﹕ 學(xué)習(xí)好的IC OPEN接受值﹐其Limit為+80%﹐-40%﹐之中不能加放電﹐單片測試值如與整體統(tǒng)計值偏差較大時﹐應(yīng)找其他原因﹐不能改動設(shè)定值。
ü 其他﹕ A: 78L05做三極管測試 1#﹔B:加測 網(wǎng)卡12﹑13腳對地阻抗﹔C﹕加測PWM測試阻抗﹔
ü NOTES﹕電阻﹑Connector上的排針﹑感﹑二極管可電測率應(yīng)盡量保持在**。
詞條
詞條說明
ICT 測試不良原因分析1.??開路不良:( 常由探針接觸不良所致 )開路不良只針對某一短路群而言,例如:有短路群:?? ,?ICT測試出1,10開路不良,表示 PCB 上測試點1與測試點10之間電阻大于55Ω(或55-85Ω),可以用萬用表在 PCB 上的測試點上進(jìn)行驗證;可能原因:1)? 
過爐治具的基本特點:1、應(yīng)用于PCB板制程中手插件的焊接(過錫)以及保護(hù)SM?T貼片元件和PCB板;2、過錫爐治具采用防靜電合成石材料制成,具有精度高、防靜電、耐高溫、不變形、低熱傳導(dǎo)等特性,較可靠的保護(hù)貼片器件和PCB板;3、經(jīng)C NC加工,精度高,對于貼片器件能夠較有效的保護(hù);4、為產(chǎn)品過錫操作方便,可固定外形尺寸,采用一模托多個產(chǎn)品來提高生產(chǎn)效率;5、采用較新的壓接方式裝配,配合國
一、ICT的通用功能:1.ICT能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi),全檢出組裝電路板上零件:電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED,普通二較體、穩(wěn)壓二較體、光藕器、IC等零件,是否在我們設(shè)計的規(guī)格內(nèi)運作。2.ICT能夠先期找出制程不良所在,如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯件、空焊等不良問題,回饋到制程的改善。3.ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測試結(jié)果,包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值,以供維修
波峰焊治具使用壽命有多久?首先在回答這個問題的時候,我們需要知道你問的這款波峰焊治具使用的材料是什么?因為波峰焊治具的材料直接會影響到使用壽命。那么波峰焊治具材料有哪些呢:1、較經(jīng)濟(jì)的波峰焊治具材料是我們常常講的玻纖板也叫FR4。這種波峰焊治具材料的特點是價格便宜,對于產(chǎn)量小的客戶是不錯的選擇。使用壽命8000次-12000次。2、較常用的波峰焊治具材料合成石從外觀來看黑色,當(dāng)然也有灰色和其他顏色
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