高低溫恒溫試驗箱濕度顯示錯誤的原因

時間：2023-01-04作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：162

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  詞條說明

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• 高低溫試驗箱均勻度偏差的原因

  一臺自然環(huán)境實驗設(shè)備,包含恒溫恒濕試驗箱所出示的自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)，務(wù)必是可觀察的和可操縱的,這不但是為了較好地使空氣質(zhì)量參數(shù)限定，在一定的容時容差范疇以內(nèi),確保實驗標(biāo)準(zhǔn)的重現(xiàn)性和可重復(fù)性的規(guī)定,并且從商品實驗的安全性考慮也是務(wù)必的,便于避免自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)無法控制造成被試商品的毀壞,產(chǎn)生多余的損害。現(xiàn)階段各種各樣試驗箱實驗標(biāo)準(zhǔn)中，大致規(guī)定主要參數(shù)檢測的精密度不可小于實驗標(biāo)準(zhǔn)容許的，誤差的三分之一。溫度均勻

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  8月25-26日，由江蘇無錫經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)管理**、集成電路設(shè)計創(chuàng)新聯(lián)盟、半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會集成電路設(shè)計分會、“芯火”雙創(chuàng)基地（平臺）等主辦的“*二屆集成電路設(shè)計創(chuàng)新大會暨IC應(yīng)用博覽會”（簡稱 ICDIA 2022）在無錫太湖世界博覽中心成功召開，為尋求合作發(fā)展，探討集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的較大可能性，廣東宏展科技應(yīng)邀參加本次盛會！集成電路設(shè)計創(chuàng)新聯(lián)盟秘書長程晉格發(fā)表了開幕演講，科技部司長、無錫市周文棟副市