背景 某產(chǎn)商反映其產(chǎn)品PCBA板存在焊接后物料易脫落之失效現(xiàn)象(PCBA板及脫落物料見(jiàn)下圖),為查找其脫落之根本原因,故委托我實(shí)驗(yàn)室對(duì)其產(chǎn)品物料及PCBA板進(jìn)行失效分析。 PCBA板及局部放大圖 PCBA板及局部放大圖 1) 物料未脫落樣品推力及切片+SEM分析 小結(jié):推力測(cè)試驗(yàn)證失效現(xiàn)象存在。切片+SEM分析發(fā)現(xiàn)物料側(cè)IMC層厚度在1.36um~3.29um,存在大量孔洞及裂紋,嚴(yán)重影響焊接強(qiáng)度。此為焊接不足之直接原因。 2) 物料已脫落樣品斷面SEM+EDS分析 小結(jié):物料已脫落樣品斷面SEM分析發(fā)現(xiàn),斷面存在異常,微觀呈韌窩斷裂形貌(韌窩斷裂形貌多為微孔擴(kuò)大集聚導(dǎo)致)。EDS成分分析發(fā)現(xiàn)斷口邊緣存在氧化現(xiàn)象。 3) 物料端斷面切片+EDS分析 小結(jié):斷面切片+EDS成分分析發(fā)現(xiàn),物料Pin鍍層為Cu/Zn,Cu層厚度1.96um~2.09um,Zn層厚度4.71um~4.97um,在Pin斷面彎屈處存在大量缺口。是導(dǎo)致后期焊接產(chǎn)生氣孔和裂紋的主要原因。 4) 物料表面SEM+EDS成分分析 小結(jié):物料表面SEM+EDS成分分析發(fā)現(xiàn),物料Pin鍍層表面存在大量裂紋,EDS成分分析發(fā)現(xiàn)Cu元素,存在露銅現(xiàn)象。直接影響鍍層性能,導(dǎo)致后期焊接強(qiáng)度不足。 結(jié)論及改善建議 1)PCBA板上物料焊接強(qiáng)度不足,易發(fā)生脫落。 2)物料側(cè)IMC存在大量裂紋及孔洞,此為焊接強(qiáng)度不足直接原因。 3)焊接斷裂面存在異常,微觀呈韌窩斷裂形貌(韌窩斷裂形貌多為微孔擴(kuò)大集聚導(dǎo)致),且有輕微氧化現(xiàn)象。 4)物料Pin鍍層為鍍Cu再鍍Sn,鍍Sn層表面存在大量裂紋,有露銅現(xiàn)象,會(huì)導(dǎo)致焊接后IMC層產(chǎn)生裂紋及孔洞。 5)加強(qiáng)物料管控,對(duì)來(lái)料進(jìn)行必要檢測(cè)。
試驗(yàn)方案:
優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876
詞條
詞條說(shuō)明
優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|電子電氣產(chǎn)品需要檢測(cè)的苯系物有哪些
電子電氣產(chǎn)品中常需要檢測(cè)的苯系物主要包括以下幾種:苯是一種常見(jiàn)的**溶劑,具有揮發(fā)性和毒性。在電子電氣產(chǎn)品中,苯可能存在于一些涂料、膠水、清潔劑等原材料中。長(zhǎng)期接觸苯可能會(huì)對(duì)人體的造血系統(tǒng)、神經(jīng)系統(tǒng)等造成損害,因此需要對(duì)其在電子電氣產(chǎn)品中的含量進(jìn)行檢測(cè).甲苯常作為溶劑或稀釋劑用于電子電氣產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程中,例如在電路板的制造過(guò)程中,甲苯可能會(huì)用于清洗和脫脂等工藝。此外,一些塑料、橡膠等材料中也可能含
優(yōu)爾鴻信檢測(cè) 深圳尺寸檢測(cè) 尺寸檢測(cè)的檢測(cè)設(shè)備
深圳尺寸檢測(cè) 尺寸檢測(cè)的檢測(cè)設(shè)備使用機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)檢測(cè)產(chǎn)品尺寸是目前較**的檢測(cè)技術(shù)。這是一種非接觸式測(cè)量方法。在檢測(cè)過(guò)程中與產(chǎn)品接觸不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成二次傷害,檢測(cè)結(jié)果*加準(zhǔn)確**。目前,市場(chǎng)上有很多尺寸檢測(cè)設(shè)備。今天,以東莞瑞智光電尺寸檢測(cè)設(shè)備為例。瑞智光電的尺寸檢測(cè)設(shè)備是一種非接觸式光學(xué)視覺(jué)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備,采用機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)和機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行各種尺寸檢測(cè),與玻璃盤影像篩選機(jī)、分度盤影像
環(huán)境老化高低溫測(cè)試怎么做-富士康華南檢測(cè)中心
高低溫測(cè)試,又高低溫循環(huán)測(cè)試,在電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中較為常見(jiàn)。 高低溫測(cè)試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測(cè)試。 先檢查產(chǎn)品拍照,再放進(jìn)高低溫箱中,設(shè)置溫度箱參數(shù)、各自溫度保持時(shí)間、周期數(shù)等,測(cè)試結(jié)束再檢查樣品性能,對(duì)比分析。 編輯:Amanda王莉
優(yōu)爾鴻信檢測(cè) GC-MS如何檢測(cè)多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚?
樣品前處理提取:首先要從塑膠等樣品中提取多溴聯(lián)苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。常用的提取方法是索氏提取法,將樣品放入索氏提取器中,使用合適的**溶劑(如正己烷 - 二氯甲烷混合溶劑)進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間(如 16 - 24 小時(shí))的提取。另外,也可以采用加速溶劑萃取(ASE)技術(shù),通過(guò)升高溫度和壓力,在較短時(shí)間內(nèi)(如 15 - 30 分鐘)高效地提取目標(biāo)化合物。凈化:提取后的樣品溶液含有雜質(zhì),需要
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